DriveThru 기능을 지원하는 테스트 개발 소프트웨어는 저항기와 디바이스 사이에 할당된 테스트 지점이 없을 경우 집적 회로나 커넥터를 테스트할 수 있습니다.

주요 특징

많은 인쇄 회로 보드 설계에서 풀업 및 풀 다운 저항을 추가하여 집적 회로에 바이어스를 줍니다. 저항기와 디바이스 사이의 노드는 일반적으로 테스트 지점이 없습니다. DriveThru 기능을 지원하는 테스트 개발 소프트웨어는 저항기와 디바이스 사이에 할당된 테스트 지점이 없을 경우 집적 회로나 커넥터를 테스트할 수 있습니다.

이 기능이 활성화된 개발 소프트웨어는 집적 회로에서 VTEP 또는 nanoVTEP 테스트를 실행할 때 저항기에서 자동으로 테스트 지점을 선택합니다.

이 기능은 저항기 외에도 인덕터, 점퍼, 스위치, 퓨즈, 소형 커패스터 등의 직렬 콤포넌트를 지원합니다.

역량확대

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