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주요 특징

  • 숏와이어 픽스처링 기술이 이동성, 반복성 및 안정성 보장
  • 혁신적인 설계로 유지보수와 픽스처 교환이 용이
  • 길이가 800 mm(31.5”)에 불과한 소형 섀시
  • 자동화된 회로내 테스트(ICT) 솔루션을 위한 단일 접촉 지점
  • 종합적인 시스템내 경계 스캔 도구

i3070 시리즈 5i 인라인 ICT는 우수한 키사이트 3070 및 i3070 시스템에 사용되는 키사이트의 인기있는 독점 숏와이어 픽스처링 기술을 유지하고 있습니다.

숏와이어 픽스처링 기술은 노이즈나 시스템 안정성 저하와 같은 롱와이어 픽스처링에서 흔히 발생하는 문제를 없애줍니다. 따라서 전 세계 각지 또는 여러 제조 현장에 테스트를 배포해야 하는 상황에서도 i3070 시리즈 5i에서 이동성과 반복성, 안정성이 뛰어난 테스트가 가능합니다.

i3070 시리즈 5i 인라인 ICT는 바쁜 라인 작업자와 테스트 엔지니어가 쉽게 사용할 수 있습니다. 헤비 듀티 슬라이드에 장착되는 카드 케이지를 쉽게 당겨서 뺄 수 있어 모듈 카드 교체가 용이합니다.

서랍 부분은 인체공학적으로 설계되어 있어 테스트 시스템과의 픽스처 로드 또는 언로드가 매우 편리합니다. 이러한 특징 덕분에 특히 혼합된 구성 요소가 많은 제품 실행 시 시간과 노력을 줄일 수 있습니다.

지능적인 픽스처 식별, 보드 방향 감지, 테스트 계획 개정 제어를 포함한 다양한 도구가 제공되므로 오늘날의 복잡한 인쇄 회로 기판 어셈블리를 테스트하는 데 필요한 동종 최고의 자동화 솔루션을 개발하는 데 도움이 됩니다.

i3070 시리즈 5i는 3070 및 i3070 테스트 플랫폼과 완벽히 역호환됩니다.

ICT 시스템에 대한 자세한 내용은 ICT 시스템 - i3070을 참조하십시오.

주요 사양

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Fixture Actuation
Press Down
Max Node Count
2592
Max Parallel Testing
2
System Type
Automated Handler
System Width
800mm
Fixture Actuation
Max Node Count
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System Type
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Press Down
2592
2
Automated Handler
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Fixture Actuation:
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Max Parallel Testing:
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ICT(In-Circuit Test) 시스템의 역량 확대

Application Notes 2023.05.04

Plug and Play i3070 In-Circuit Tester into your Industry 4.0 Smart Factory using IPC-CFX

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The backbone of Industry 4.0 applications is machine to machine communication. Transportation of information between machines and systems or machines to machines enables decentralized decision making. The challenge with machine-to-machine communication is that there was no standard “language”, each machine had its own communication protocols. IPC-CFX is an electronics manufacturing industry developed standard to address this challenge. IPC-CFX simplifies and standardizes machine to machine communication while also facilitating machine to business/business to machine solutions. Keysight’s i3070 In-Circuit test system supports IPC-CFX, as well as other communication protocols such as MQTT, OPC-UA and Panasonic’s iLNB.

2023.05.04

Application Notes 2023.03.20

Configuring the i3070 Settings with Autocode

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The i3070 is a widely used Automatic Test Equipment (ATE) model for testing printed circuit boards (PCBs) in the electronics industry. The i3070 uses a Programmable Logic Controller (PLC) address and data, which is referred to as "autocode" to configure various settings and configurations, including the "dual board staging" setting. However, changing these settings during production changeover can be risky, as it requires access to maintenance mode and can result in errors if wrongly selected. This application note provides guidance on setting up auto-code in the “testplan” to improve the efficiency and accuracy of the i3070 configuration process.

2023.03.20

Application Notes 2023.01.05

Practical Bead Probe Implementation Strategy

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This application note demonstrated how you could improve the test coverage on small and complex PCBAs by adopting the bead probe handbook's strategy. This paper showcased the different experiments on the stencil aperture and fixture probe style to validate the optimum parameters.

2023.01.05

Application Notes 2023.01.04

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This document summarizes the bead probe handbook and other relevant white papers that describe effective methods for bead probe implementation. This paper shows how to use the formula to fine-tune the parameters to achieve optimal bead heights and emphasizes the importance of considering the impact of various variables such as bead height, length, and aperture size, as well as probe force, and selecting the appropriate probe head style for different types of applications.

2023.01.04

Application Notes 2022.09.23

Developing a Fixture for Extra-Large Printed Circuit Boards (PCBA)

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2022.09.23

Application Notes 2022.07.05

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2022.07.05

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