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81910A 포토닉 종합 파라미터 분석기

제품상태

단종

서비스 요청

대체

N7788C 광 콤포넌트 분석기

HIGHLIGHTS

Simultaneous all-optical measurement of loss (IL) / return loss (RL), polarization dependent loss (PDL), group delay (GD) and different group delay (DGD)
Application-Programmable Interface (API) for custom analysis, remote control and automation, and integration with simulation software solutions
All measurements made in swept-wavelength mode for shortest test time at picometer wavelength resolution
Software-enabled multi-port testing and new noise threshold feature for more convenient analysis of multichannel devices

키사이트 81910A는 고급 포토닉(photonic) 디바이스를 포괄적으로 분석할 수 있는 단일 솔루션으로 DWDM 부품과 관련된 모든 물리적 특성을 분석할 수 있습니다.

스펙트럼 손실(IL)/반환 손실(RL), 편광 의존 손실(PDL), 그룹 지연(GD) 및 상이 그룹 지연(DGD)의 모든 광 측정을 동시에 수행
색 분산(CD) 및 편광 모드 분산(PMD) 디스플레이
전송 및 반사 동시 측정
피코미터(pm) 파장 분해능에서 빠른 측정을 위해 모든 측정을 스위프 파장 모드에서 수행
편광 의존성의 실제 평균으로부터 계산하기 때문에 명확한 손실 및 GD(group delay) 결과가 얻어집니다.
손실 계산을 위한 Mueller 메트릭스 방법과 간섭계 분산 측정을 위한 Jones 메트릭스 방법의 독특한 조합으로 모든 축에서 최상의 정밀도가 얻어집니다.

키사이트 81910A는 2003년도의 리엔지니어링 및 기능 강화로 측정 속도가 10배 향상되고 분석과 사용자 편이성 기능이 더욱 개선되었습니다.

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