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안테나 측정 툴셋

구형 안테나 패턴 측정 및 위상 배열 교정을 높은 정확도와 속도로 수행합니다.

제품 이미지

  • Maximum quiet zone size

    240 cm

  • Frequency range

    1.7 to 110 GHz

  • Measurement type

    Indirect far field (IFF)

  • Maximum angles of arrival

    1 AoA

  • Use cases

    Antenna pattern measurement, Phased array antenna calibration

  • Maximum DUT weight

    100 kg

견적 준비 완료

포함된 내용과 키사이트의 사용 가능한 업그레이드 옵션을 확인하십시오.

하이라이트

S7601A 안테나 측정 툴셋은 다음 구성 요소를 사용하여 셀룰러, 자동차 및 위성 통신용 다양한 유형의 안테나를 테스트하고 검증하는 포괄적인 솔루션입니다.

F9650A는 키사이트의 소형 안테나 테스트 범위(CATR) 솔루션으로, 6-110GHz 범위에서 전체 적합성, 스퓨리어스 방출 및 안테나 설계 테스트를 위해 모듈형 형식으로 30cm 및 40cm의 정숙 영역 직경을 제공합니다. 극한 온도 조건(ETC)은 옵션입니다. 더 큰 테스트 볼륨과 디바이스, 그리고 더 낮은 주파수를 위해서는 풀 사이즈 무반향 챔버도 사용할 수 있습니다.

위상 배열 및 수동 안테나 패턴 측정의 경우, 키사이트의 F7601000A 안테나 측정 툴셋 애플리케이션은 다음 옵션을 제공합니다.

  • 안테나 패턴 측정 옵션은 구형 안테나 패턴 측정을 수행하고 지향성, 효율, 이득, 빔폭 및 사이드로브 레벨과 같은 측정 기준을 계산합니다. 키사이트의 벡터 네트워크 분석기 중 하나를 사용하여 캡처된 벡터 안테나 패턴 데이터는 CATR의 이중 선형 편파 피드 혼을 사용하여 얻은 직교 측정값으로부터 원형 및 타원형 편파 정보를 계산하는 데 사용될 수 있습니다. 그래픽 사용자 인터페이스를 통해 다양한 2D, 3D 및 테이블 형식으로 패턴을 조작할 수 있으며, 안테나 측정과 관련된 다양한 측정 기준을 평가할 수 있습니다.
  • 위상 배열 안테나 제어 및 교정 옵션은 표준 SCPI 명령 세트를 통해 사용자의 위상 배열 및 빔포밍 칩셋을 완벽하게 제어할 수 있도록 하여, 키사이트가 개발한 산업용 칩셋 지원 또는 사용자가 제공하는 자체 맞춤형 설계 지원을 모두 허용합니다. 키사이트의 독점적인 위상 배열 교정 알고리즘은 R&D 및 생산 애플리케이션을 위한 각 배열 요소의 신속한 교정을 제공합니다. 안테나 패턴 측정 옵션과 결합하면 시스템은 위상 배열의 빔포밍 패턴을 측정하여 교정 전후의 방사 성능을 신속하게 비교할 수 있습니다. 단일 테스트 구성에서 유효 등방성 복사 전력(EIRP), 빔 스캔 각도에 따른 방사 패턴, 빔 스캔 범위 및 손실, 교차 편파 분리, 이득 압축, 잡음 온도 대비 이득(G/T) 및 변조 왜곡(EVM)을 포함한 다양한 측정항목을 얻을 수 있습니다.

키사이트의 안테나 테스트 솔루션은 PNA-X 시리즈와 같은 키사이트의 인기 있는 벡터 네트워크 분석기 라인을 포함하여 다양한 RF 및 무선 통신 테스트 장비로 구성할 수 있습니다.

  • 키사이트 PNA-X에는 두 개의 내부 신호원, 신호 결합기, S-파라미터 및 노이즈 수신기, 펄스 변조기 및 발생기, 그리고 유연한 스위치 및 RF 액세스 포인트 세트가 포함되어 있습니다. 이러한 하드웨어 기능은 피측정 장치에 대한 단일 연결 세트로 광범위한 선형 및 비선형 측정을 위한 강력한 핵심을 제공합니다.
  • 키사이트의 VXG 벡터 신호 발생기는 가장 까다로운 무선, 자동차 및 항공우주 및 방위 애플리케이션을 위해 초저 위상 잡음과 함께 높은 출력 전력을 제공합니다.

이 솔루션 브리프에서 위상 배열 안테나 테스트에 대해 자세히 알아보십시오.

 

 

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