NX5402A 실리콘 포토닉스 웨이퍼 테스트 시스템 솔루션 세트

이 전단지는 NX5402A 실리콘 포토닉스 웨이퍼 테스트 솔루션 및 시스템 개요에 대한 정보를 제공합니다.

REFLET 180S - 2D/3D 산란광 측정 장비

키사이트 REFLET 180S는 모든 종류의 재료 및 물체의 산란 특성 분석을 위한 소형 전동식 광학 시스템입니다.

편광 정렬 방법

디바이스 및 프로브에 광 편광을 정렬하기 위한 설명 및 프로그래밍

N7786B 편광 합성기

이 데이터 시트는 N7786B 편광 신시사이저에 대해 설명합니다. N7786B는 고속 리튬-나이오베이트 기반 편광 컨트롤러와 편광 분석기, 그리고 마이크로컨트롤러 기반 구동 회로를 포함합니다.

N778xC 편광 테스트 제품

새로운 N778xC 편광 테스트 제품은 광학 부품 및 서브시스템의 고속, 고성능 특성화 및 검증을 가능하게 합니다.

E3846A 극성 확인 기술

키사이트 극성 확인 기술은 키사이트 3070 시리즈 3 시스템을 강화하여 역극성 커패시터를 안전하고 자동으로 감지하는 기능을 제공합니다. 이 혁신적인 측정 기술은 안정적이고 포괄적인 테스트 솔루션을 제공하도록 설계된 새로운 기술을 구현합니다.

실리콘 나노와이어 편광 회전기

이 RSoft 제품 애플리케이션 노트는 제작 및 작동이 간단한 초소형 수동 편광 회전자를 설명합니다.

파장 의존 편광 측정

조정 가능한 레이저 스캐닝과 동기화된 편광계 로깅 프로그래밍.

N7784B 고속 편광 컨트롤러

이 데이터 시트는 고속 편광 컨트롤러와 마이크로컨트롤러 기반 구동 회로를 포함하는 편광 컨트롤러에 대해 설명합니다. 이 장치는 다양한 모드로 작동할 수 있습니다.

편광 의존 손실(PDL) 측정

이 앱 노트는 8169A 편광 컨트롤러를 사용한 편광 의존 손실(PDL) 측정 프로세스에 대해 설명합니다.

편파의 효율적이고 정확한 BPM 시뮬레이션

BPM을 사용하여 실리콘 기반 편광 변환기-분할기를 효율적이고 정확하게 시뮬레이션하는 방법. 이 방법은 BPM이 FDTD 수준의 정확도를 달성하면서 계산 시간과 메모리 사용량을 몇 자릿수 줄임을 보여줍니다.

편광 스크램블러를 이용한 PER 및 PDL 측정 방법

동기식 편광 스크램블러를 편광 상태 시퀀스를 통해 반복 가능한 스텝핑으로 프로그래밍하여 빠른 PER 및 PDL 측정을 수행하는 방법을 알아보십시오.

향상된 정확도 및 신뢰성을 위한 극성 확인

이 백서는 SMD J-리드 탄탈륨 커패시터용으로 향상된 극성 확인 기술을 탐구하며, 방향 감지를 위한 보다 정확하고 효율적인 방법을 제공합니다.

광학 부품의 편광 의존 손실 측정

편광 의존 손실 및 삽입 손실은 광섬유 통신 시스템에 사용되는 광학 부품에 중요합니다. 테스트를 위한 다양한 접근 방식을 살펴보십시오!

디스플레이 백라이트 재활용을 위한 반사형 편광판 설계

반사형 편광판 및 DBEF 기술이 백라이트 재활용을 개선하여 편광 관리 및 시뮬레이션 기반 최적화를 통해 디스플레이 광학 효율을 높이고 에너지 효율적인 평판 디스플레이를 설계하는 방법을 알아보십시오.

극성 커패시터 ICT 테스트 플랫폼 방향 테스트

극성 커패시터가 잘못 장착된 경우 이를 감지하고 가능한 한 빨리 수정하는 것이 왜 중요한지 알아보십시오. 자세히 알아보십시오.

고속 스윕 편광 의존 손실(PDL) 측정

이 애플리케이션 노트는 편광 의존 손실(PDL) 측정과 관련된 측정 시간을 크게 줄이는 접근 방식을 설명합니다.

고굴절률 대비를 통한 모드 진화 기반 편광 회전기 시뮬레이션

빔 전파 방법(BPM) 시뮬레이션이 고굴절률 편광 회전기를 정확하게 모델링하는 방법을 알아보고, 이를 통해 집적 광자 회로용 편광 제어 장치의 효율적인 설계 및 검증이 가능합니다.

PDL 또는 PER 동기 편광 스크램블러를 위한 모든 상태 방법

PDL 또는 PER의 모든 상태 측정을 위한 설명 및 프로그래밍

CWDM 및 LWDM 부품 파장 및 편광 테스트

CWDM 및 LAN-WDM 부품 테스트를 위한 테스트 솔루션 구성