Choose a country or area to see content specific to your location
確認您的國家或地區
請確認
確認您的國家/地區,以存取相關定價、特別優惠、活動和聯絡資訊。
探索適用於高要求射頻工作流程的雙通道與超寬頻訊號分析。
透過我們這款全新多核心、12 位元、最高頻率達 33 GHz 的示波器,獲得更快速、更清晰的洞察。以舊換新,將您的舊示波器折抵購買新款 XR8 的費用。
將設計與實體測試相結合,在硬體尚未問世之前,即評估其是否符合跌落、衝擊、震動及振動的相關規範。
解鎖您免費升級至下一級頻寬的資格。
強化從收發器到互連設備的 1.6T 網路可靠性,以因應 AI 規模的工作負載。
將 Keysight VSA 軟體與新的 XA5 訊號分析儀搭配使用,以進行進階視覺化、解調變和分析 — 立即開始您的 30 天試用。
這些強化型 NPB 具備額外的記憶體和儲存空間,可執行 Keysight 的 AI 安全性和效能監控軟體以及 AI 堆疊。
探索涵蓋積體電路設計、驗證、晶圓測試及光子學的端到端工作流程。
探索精選的支援計畫,這些計畫經過優先排序,旨在讓您快速創新。
透過專為 Keysight 儀器設計的精準配件,最大化準確度和性能。
針對您所在產業獨特的設計與測試挑戰而量身打造的專用解決方案。
對應產品生命週期各個階段(從設計到營運)的應用情境。
成功案例
權威應用說明、資料表、參考設計和測試程序,可加速設計與驗證決策。
實作訓練營,教授系統設計、測試方法和生產工作流程,工程師可立即應用。
學習中心
探索用於設計、驗證及擴充 AI 系統與網路的方法論、測試策略和技術資源。
全年無休的自助服務入口網站
更多的產品支援資訊
更多可協助您加速創新的是德科技服務
Learning Resources
適用於 5G TF 波束成形功能測試的 OTA 設定
本白皮書提出了一種新穎的方法,可實現多個到達角 (AoA) 波束成形的空中 (OTA) 測試,具體而言,是結合現有的 sub-6 GHz 網路模擬器、毫米波 RF 射頻頭和雙極化喇叭天線,來實現多個同步下行鏈路波束的測試。
相干光通訊測試挑戰
本應用說明著重於新一代光纖通訊系統的測試和疑難排解,這些系統必須支援 100 Gb/s、400 Gb/s 或更高資料速率。
將 3499A/B/C 切換系統更新至 34980A 開關/量測單元的優點
本應用說明將闡述新型 34980A 相較於 3499A/B/C 的差異與優勢。34980A 切換/量測系統提供卓越的切換拓撲和系統控制功能選擇,精通切換、量測與控制功能。34980A 主機已整合最先進的 DMM,可提供多種量測功能。34980A 主機還包含標準 PC 連線和儀器控制選項,讓您易於使用。在本文件中,探索使用 34980A 升級測試系統的詳細優勢。
您不可不知的同調光學調變技術
同調光學調變技術基本原理簡介。
認識向量網路分析的基本原理
電子測量儀器場地規劃要求
Keysight 測試與量測儀器現場準備計畫。
偏振對準方法
光學偏振對準裝置與探棒的說明與程式設計
N7786B 偏振合成器
本資料表說明 N7786B 偏振合成器。N7786B 包含一個高速鈮酸鋰偏振控制器和一個偏振分析儀,以及微控制器驅動電路。
E3846A 極性檢查技術
Keysight 極性檢查技術透過安全自動偵測反向極性電容器的能力,增強了 Keysight 3070 Series 3 系統。這項創新的量測技術採用了新工程技術,可提供穩定、全面的測試解決方案。
N778xC 偏振測試產品
新推出的 N778xC 偏振測試產品可實現光學元件和子系統的高速、高性能特性分析和驗證。
矽奈米線偏振旋轉器
這份 RSoft 產品應用說明闡述一種易於製造和操作的超小型被動式偏振旋轉器。
波長相關偏振量測
編程旋光計記錄與可調諧雷射掃描同步。
N7784B 高速偏振控制器
本資料表說明偏振控制器,其包含一個高速偏振控制器和微控制器驅動電路。本裝置可在多種模式下運作。
偏振相關損耗 (PDL) 量測
這份應用說明討論了使用 8169A 偏振控制器的偏振相關損耗 (PDL) 測量過程。
高效且精確的偏振 BPM 模擬
如何使用 BPM 有效率且精確地模擬矽基偏振轉換器-分光器,證明 BPM 能達到 FDTD 等級的準確度,同時將計算時間和記憶體使用量減少數個數量級。
搭配偏振擾頻器的 PER 和 PDL 量測方法
瞭解如何透過程式設計同步偏振擾亂器,使其透過一系列偏振態實現可重複的步進,以進行快速 PER 和 PDL 量測。
增強的極性檢查,可提升準確度和可靠度
本白皮書探討了用於 SMD J 型引線鉭質電容器的增強型極性檢查技術,為方向偵測提供更準確、更有效的方法。
量測光學元件的偏振相關損耗
偏振相關損耗和插入損耗對於用於光纖通訊系統的光學元件至關重要。探索多種測試方法!
設計用於顯示器背光回收的反射式偏光片
探索反射式偏光片和 DBEF 技術如何透過偏振管理和模擬驅動最佳化來改善背光回收,從而提高顯示器光學效率,以實現節能的平面顯示器設計。
ICT 測試平台中的極化電容器方向測試
了解為何偵測錯誤方向的極化電容器並盡早修正至關重要。閱讀更多。
尋找感興趣的產品?