반도체 파라메트릭 특성화 기본 교육 - 2부

신뢰할 수 있는 반도체 파라메트릭 테스트 정전 용량 측정 방법을 확실하게 이해합니다.

반도체 파라메트릭 특성화 기본 교육 - 1부

기능성 제품 테스트보다는 디바이스 및 공정 파라미터에 중점을 둔 반도체 파라메트릭 테스트의 기본 사항에 대해 알아봅니다.

반도체 파라메트릭 특성화 – 1부

이 종합 부트캠프를 통해 반도체 특성화의 기본 및 고급 기술을 살펴보십시오. 웹 세미나, 애플리케이션 노트 및 키사이트의 업계 선도적인 핸드북을 통해 베어 칩 검증, SMU(Source Measure Unit) 최적화 또는 더 빠른 시장 출시를 위한 설계 시뮬레이션 등 파라메트릭 특성화의 실제 과제를 해결할 수 있는 실무 기술을 습득하게 됩니다. 학습 내용: 파라메트릭 테스트의 핵심 원리(CV-IV, 준정적 대 고주파 방법). 정확한 저레벨 측정 및 ADS를 사용한 가상 프로토타이핑을 위한 SMU 모범 사례. 게이트 전하(JEDEC) 및 SiC/GaN용 초저 Rds-on을 포함한 고급 전력 디바이스 특성화. 테스트 자동화 및 원격 교육을 위한 Digital Learning Suite. 이 부트캠프는 반도체 설계 및 개발 엔지니어 또는 반도체 파라메트릭 특성화에 관심 있는 모든 사람에게 이상적입니다. 

자동차 애플리케이션의 전력 테스트를 위한 과제 및 솔루션

이 기술 개요는 자동차 전자 시스템, 그들이 직면하는 과제, 그리고 자동차 전자 엔지니어가 이를 해결하기 위해 필요한 도구에 대한 개요를 제공합니다. 키사이트가 이러한 과제에 대한 솔루션을 논의하는 것으로 마무리됩니다.

반도체 파라메트릭 특성화 – 2부

이 집중 부트캠프를 통해 디바이스 특성화에 대한 전문가 수준의 기술을 습득하십시오. 비디오 강의, 애플리케이션 노트 및 키사이트의 신뢰할 수 있는 핸드북을 통해 커패시턴스 및 게이트 전하에서 초저 저항에 이르는 중요한 파라미터를 업계 표준 방법 및 도구를 사용하여 추출하는 방법을 배우게 됩니다. 학습 내용: 디바이스 분석을 위한 커패시턴스 측정 기본 사항(준정적 대 고주파 CV). 테스트 워크플로우를 간소화하는 통합 CV-IV 솔루션. Si/SiC/GaN 전력 디바이스를 위한 JEDEC 규격 게이트 전하 측정. SiC MOSFET의 초저 온저항(Rds-on)을 위한 정밀 기술. 실험실 및 교육을 위한 Digital Learning Suite를 사용한 테스트 자동화. 이 부트캠프는 디바이스 특성화 엔지니어, 전력 반도체 연구원 및 실무 파라메트릭 테스트 기술을 찾는 교육자에게 이상적입니다. 

EV 배터리 테스트 랩의 효율성 향상

배터리 비용이 전기차(EV)의 경제성을 높이는 데 중요한 요소이므로, 대규모 테스트 연구소에서 효율적인 워크플로우를 갖추는 것이 필수적입니다. EV 배터리 테스트 연구소의 일반적인 워크플로우를 살펴보고, 최신 배터리 테스트 연구소를 자동화하면 시간과 비용을 모두 절약하는 데 어떻게 도움이 되는지 알아보십시오. 이를 통해 개발자는 셀, 모듈 및 팩 수준에서 배터리 품질 개선에 집중할 수 있습니다.

SPECS & SPECS-FA - 4080 시리즈용 파라메트릭 테스트 시스템 소프트웨어

이 문서는 파라메트릭 테스트 시스템을 위한 SPECS 소프트웨어에 대한 간략한 개요를 제공합니다.

셀, 모듈 및 팩 레벨에서 EV 배터리 테스트

전기차(EV) 배터리는 다양한 폼 팩터로 제공됩니다. 개별 셀 수준에서는 원통형 셀이거나 더 강력한 파우치 및 각형 셀일 수 있습니다. 이러한 셀은 모듈로 조립되고, 모듈은 다시 연결되어 배터리 팩을 형성한 다음 차량 섀시에 조립됩니다. 키사이트 배터리 테스트 전문가와 함께 각 단계의 다양한 배터리 테스트 파라미터가 EV에서 배터리가 궁극적으로 어떻게 작동할지를 결정하는 방법을 알아보십시오.

EV 배터리 붐에 대응하기 위한 시장 변화 대처

전기차(EV) 시장은 EV 배터리 개발 및 제조의 붐을 이끌고 있습니다. 막대한 시간 및 비용 압박 속에서 세 가지 주요 트렌드가 배터리 개발자가 시장 과제를 해결하는 데 도움이 되고 있습니다. 바로 배터리 테스트 연구소의 규모, 테스트 속도, 그리고 총 소유 비용입니다. Auto Tech Talk는 배터리 개발의 시장 트렌드를 탐구합니다.

Anite SAS 호환성 테스트 솔루션

Anite SAS 상호 운용성 테스트 솔루션 제품 브로슈어

5G의 첫 번째 단계: New Radio 디바이스의 다양한 설계 과제 해결 - Part 1 | 키사이트 Keysight

5G NR은 장치 및 부품 설계자에게 새로운 과제를 제시합니다. 이 백서 시리즈는 통신 스택의 하위 계층과 이러한 문제를 해결하는 방법을 살펴봅니다.

키사이트테크놀로지스 리프레시 서비스

키사이트 기술 솔루션을 통해 테스트 자산 가치를 극대화하고 생산성을 높일 수 있습니다.

3GPP gNB 적합성 테스트

3GPP gNB 적합성 테스트, 과제 및 기지국이 5G NR의 약속을 이행할 수 있도록 보장하는 새로운 gNB 테스트 솔루션에 대한 개요.

커넥티드 카를 위한 혁신적인 테스트 솔루션

키사이트의 커넥티드 카 혁신 테스트 솔루션을 소개하는 제품 브로슈어

우주 토크: RF 테스트 프로세스 간소화

이 30분 비디오에서 Joel Dunsmore 박사와 Jan Verspecht 박사가 RF 테스트 프로세스를 간소화할 최신 네트워크 분석기 기술에 대해 논의하는 것을 시청하십시오.

EXM 무선 테스트 세트

EXM 무선 테스트 세트는 생산 요구 사항을 충족하도록 확장 가능합니다. 이 세트는 신속하게 생산량을 늘리고 대량 생산을 최적화하는 데 필요한 속도, 정확성 및 포트 밀도를 제공합니다.

고속 디지털 표준을 위한 자동화된 테스트 부트캠프

이 부트캠프에서 키사이트 엔지니어는 심층적인 탐구를 통해 고속 디지털 표준을 위한 자동화된 테스트를 이해하는 데 필요한 기술을 제공합니다. 이들은 PCIe®, USB, DDR 및 이더넷 표준에 대한 새로운 사양을 안내하며, 더 빠른 디지털 프로토콜과 통신하는 디바이스 개발의 과제를 극복하기 위해 필요한 설계 및 테스트 솔루션을 시연합니다. 이 부트캠프를 마치면 이러한 주요 디지털 표준이 어떻게 변경되었는지, 그리고 자동화된 설계 및 테스트 솔루션을 활용하여 더 효율적으로 개발하는 방법을 이해하게 될 것입니다. 학습 내용: 각 표준의 새로운 사양으로 인해 개발자가 직면하는 과제. 설계를 시뮬레이션하고 테스트를 자동화하여 개발 프로세스 속도를 높이는 방법. EDA 설계 소프트웨어부터 Tx/Rx 테스트 솔루션에 이르기까지 성공적이고 규정을 준수하는 설계를 위해 사용할 수 있는 도구. 이 부트캠프는 고속 디지털 설계 및 테스트 엔지니어와 고속 디지털 표준을 위한 자동화된 테스트에 대한 심층적인 이해를 얻고자 하는 모든 사람에게 이상적입니다.

키사이트 E5063A PCB 분석기로 신뢰할 수 있는 PCB 테스트 스테이션을 구축하십시오

E5063A ENA 시리즈 PCB 분석기의 주요 기능을 소개합니다. 이 분석기는 임피던스(TDR) 및 반사 손실(S-파라미터) 측정 기능을 모두 제공하여 PCB 제조 테스트를 위한 최적의 솔루션입니다.

HPC 솔루션을 사용하여 2~10배 더 빠르게 시뮬레이션

PCB 설계자는 시뮬레이션을 사용하여 설계를 최적화하고 물리적 프로토타입 반복 횟수를 줄입니다. 복잡한 전자 장치는 시뮬레이션을 완료하기 위해 더 많은 컴퓨팅 성능을 요구합니다. 고성능 컴퓨팅(HPC) 및 병렬 처리는 시뮬레이션 시간을 80% 단축하여 비용을 절감하고

PROPSIM MANET 채널 에뮬레이션 솔루션

항공전자, 감시, 레이더 또는 위성 시스템의 견고한 작동을 보장하려면 전술 및 항공전자 무선 통신과 위성 링크를 결합한 혼합 네트워크를 테스트할 수 있는 능력이 필요합니다.