1.6Tトランシーバー製造テストの最適化

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DCA サンプリングオシロスコープ
+ DCA-Mサンプリング・オシロスコープ
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高スループットの光テストで1.6T生産をスケールアップ

1.6T光トランシーバーの製造テストを最適化するには、欠陥デバイスを微調整して検出するための、信頼性と精度に優れたセットアップが必要です。AIデータセンターの需要に対応するため、生産テストでは、高スループットと低コストを実現するために、高いテスト歩留まり、速度、効率を維持しながら、生産を迅速に拡大する必要があります。光サンプリングオシロスコープは、送信機分散およびアイクロージャ四値（TDECQ）性能を測定して合否コンプライアンスを判断することにより、送信機性能を特性評価します。

8つの224Gb/s光レーンと温度範囲にわたる正確なTDECQ測定には、高帯域幅、高感度サンプリング・オシロスコープ、光スイッチング、テスト自動化が必要です。エンジニアは、レーザーバイアス、変調器電圧、その他の設定を微調整して、性能を最適化することもできます。チューニングや温度上昇の段階では、オシロスコープはアイドル状態になる可能性があるため、複数のデバイス・レーンを一度に測定し、ダウンタイムを最小限に抑え、歩留まりの高い生産スケーリングでスループットを最大化することが重要となります。

1.6T光トランシーバー製造テストソリューション

1.6T光トランシーバー生産の規模拡大には、確度や信頼性を犠牲にすることなく、光オシロスコープによる高速で効率的なTDECQ測定が必要です。キーサイトの1.6T光トランシーバー製造テスト・ソリューションは、FlexOTO光テスト最適化ソフトウェア、光スイッチ、および高帯域幅・低ノイズDCA-M光サンプリング・オシロスコープを使用して、デバイスの利用率を最大化します。検証エンジニアは、複数の224 Gb/s PAM4光レーンからデータを並行して取得および解析するテスト・プログラムを設計でき、アイドル時間を短縮し、スループットを向上させ、正確な測定確度と合否判定を確保して、デバイスの歩留まりを改善します。
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