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誘電率 温度変化測定の決定版 －70～300℃ 測定システム
シート、薄膜、多層薄膜、液体およびジェルの比誘電率/tanδ測定に最適
《JIS、ASTM規格準拠》
平面板、液体、ジェルの比誘電率およびtanδを非常に精度よく測定するシステムです。オプションで－70°C～＋300°Cの温度範囲をカバーしています。Windows PCにより、E4980AプレシジョンLCRメータと恒温・恒湿槽を制御、時間のかかる温度湿度変化測定を自動化可能です。
準拠規格
ASTM D-150、JIS C2101、JIS C2141、JIS K6911
JIS C 2111 28.1.2 （B 法） 他
アプリケーション
- 電子部品用材料特性評価
- 半導体特性評価
- 材料の劣化評価
- 化学特性評価
サンプル例
- プリント基板（プリプレグ）
- 半導体ウェハ
- 純水
- フルーツ
- グリス
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