Comment caractériser les transistors bipolaires à grille isolée (IGB) de forte puissance

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Caractérisation des transistors bipolaires à grille isolée (IGBT) de forte puissance à l'aide d'une plateforme de mesure unique

Les dispositifs semi-conducteurs de puissance utilisés dans les véhicules électriques, les systèmes d'énergie renouvelable, les entraînements de moteurs industriels, le transport ferroviaire et les applications de conversion de puissance nécessitent une caractérisation électrique complète avant leur mise en production. Les ingénieurs doivent évaluer les caractéristiques de sortie, les caractéristiques de transfert, la tension de saturation, la tension de claquage, le courant de fuite et la capacité sur de larges plages de tension et de courant, tout en garantissant la précision des mesures.

La caractérisation traditionnelle nécessite généralement plusieurs instruments — notamment un traceur de courbes, un capacimètre, une source haute tension et un testeur de production — pour effectuer ces mesures. Cela accroît la complexité de la mise en place, allonge la durée de la caractérisation et oblige à passer d’une plateforme de test à l’autre. Les ingénieurs ont également besoin de mesures par impulsions afin de minimiser l’auto-échauffement des composants et de garantir une caractérisation précise des composants à courant élevé.

Solution complète de caractérisation des IGBT haute puissance

La caractérisation des transistors bipolaires à grille isolée (IGBT) de forte puissance nécessite une solution de mesure capable d'effectuer des tests à courant élevé, haute tension, pulsés et de capacité sur une seule et même plateforme. L'analyseur de dispositifs de puissance / traceur de courbes Keysight combine une alimentation de précision, la mesure des paramètres et l'analyse automatisée, tout en prenant en charge des mesures allant jusqu'à 1 500 A et 10 kV. Associée au logiciel EasyEXPERT Group+, au traçage interactif de courbes, à la visualisation des formes d'onde sur oscilloscope et à la sélection automatique des modules, cette solution aide les ingénieurs à rationaliser leurs workflows de caractérisation, à améliorer la répétabilité des mesures et à garantir une évaluation précise des dispositifs semi-conducteurs de puissance.

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