Cómo caracterizar los LED mediante mediciones precisas de la curva IV

+ SMU modular de precisión PXIe

Caracterizar el comportamiento corriente-tensión de los LED

La caracterización de corriente-tensión de los diodos emisores de luz (LED) requiere aplicar una tensión de polarización controlada mientras se mide la corriente tanto en la región de polarización inversa como en la de polarización directa. La caracterización en polarización inversa utiliza un barrido de tensión con un rango de medición de baja corriente para captar la corriente de fuga, ajustando el retardo de medición y el tiempo de apertura para tener en cuenta el comportamiento de estabilización y el ruido de medición.

La caracterización en polarización directa puede realizarse utilizando pulsos de tensión estrechos, al tiempo que se muestrean simultáneamente la tensión y la corriente para captar el comportamiento transitorio del dispositivo. Para la medición por pulsos se puede utilizar una conexión de cuatro hilos, mientras que las anchuras de pulso cortas ayudan a reducir el autocalentamiento del dispositivo. El muestreo rápido capta el pulso de tensión y la corriente transitoria correspondiente, de modo que se puede evaluar la respuesta del dispositivo a lo largo del tiempo.

Solución de caracterización de IV LED de precisión

Para caracterizar el comportamiento corriente-tensión de los LED se requiere una fuente de tensión controlada, junto con una medición sensible de la corriente para la polarización inversa y un muestreo rápido para la polarización directa pulsada. La unidad de fuente y medición de precisión PXIe de Keysight integra la generación y medición de tensión y corriente con una resolución de corriente de hasta 10 fA y una resolución de tensión de hasta 500 nV. Admite anchos de pulso de hasta 20 µs y frecuencias de muestreo de hasta 1,25 MSa/s. Los ingenieros pueden realizar barridos de polarización inversa con baja corriente y mediciones de corriente directa con pulsos estrechos, al tiempo que ajustan el retardo de medición y el tiempo de apertura para equilibrar la estabilización, el ruido y la duración de la prueba.

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