Cómo evaluar el rendimiento de los convertidores analógico-digitales (ADC) y los osciladores controlados por tensión (VCO)

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Potencia de precisión para pruebas de señal mixta

Los convertidores analógico-digitales (ADC) de alta resolución y los circuitos sensibles de osciladores controlados por tensión (VCO) requieren fuentes de alimentación de ruido extremadamente bajo y gran estabilidad para lograr una caracterización precisa de su rendimiento. Las configuraciones de prueba tradicionales suelen implicar el uso de múltiples instrumentos, una sincronización compleja y un promediado significativo para mitigar el ruido, lo que aumenta tanto el coste como la complejidad de las pruebas.

Las modernas fuentes de alimentación de bajo ruido con funciones de medición integradas simplifican estos flujos de trabajo al combinar la generación de señales de precisión, la generación de formas de onda y la medición en un único instrumento. Esto permite evaluar de forma eficaz la linealidad del convertidor analógico-digital (DNL/INL) y el ruido de fase del oscilador controlado por voltaje (VCO), al tiempo que se reduce la complejidad de la configuración y se mejora la repetibilidad de las mediciones.

Solución para la caracterización de convertidores analógico-digitales (ADC) y osciladores controlados por voltaje (VCO)

El flujo de trabajo para la caracterización de la linealidad del ADC y el ruido de fase del VCO requiere aplicar una tensión o corriente altamente estable y de bajo ruido al dispositivo sometido a prueba, al tiempo que se supervisa su respuesta. La solución utiliza una fuente de alimentación de precisión y bajo ruido con capacidad de medición integrada para proporcionar una alimentación precisa y mediciones en tiempo real, lo que garantiza resultados de prueba repetibles y de alta integridad. Las fuentes de alimentación de CC de sobremesa Keysight B2962C Pro proporcionan una salida de tensión y corriente de alta resolución con un rendimiento de ruido ultrabajo, lo que permite un polarizado limpio para dispositivos analógicos y de RF sensibles. Sus funciones de medición integradas eliminan la necesidad de instrumentos separados, simplificando la configuración de la prueba y reduciendo la complejidad de la sincronización. El filtrado integrado suprime aún más el ruido de salida, minimizando las interferencias durante mediciones como los barridos de linealidad del ADC y la evaluación del ruido de fase del oscilador controlado por tensión. Esta arquitectura admite la combinación de alimentación y medición en un único instrumento, lo que mejora la eficiencia, reduce el tiempo de configuración y permite una caracterización consistente y repetible en entornos de pruebas electrónicas avanzadas.
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