Comment évaluer les performances d'un convertisseur analogique-numérique (ADC) et d'un oscillateur commandé en tension (VCO)

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Une puissance de précision pour les tests de signaux mixtes

Les convertisseurs analogique-numérique (CAN) haute résolution et les circuits d'oscillateurs commandés en tension (VCO) sensibles nécessitent des sources d'alimentation à très faible bruit et hautement stables pour permettre une caractérisation précise des performances. Les configurations de test traditionnelles impliquent souvent l'utilisation de plusieurs instruments, une synchronisation complexe et un calcul de moyenne important pour atténuer le bruit, ce qui augmente à la fois le coût et la complexité des tests.

Les sources d'alimentation modernes à faible bruit, dotées de fonctions de mesure intégrées, simplifient ces processus en combinant une alimentation de précision, la génération de formes d'onde et la mesure au sein d'un seul et même instrument. Cela permet d'évaluer efficacement la linéarité des convertisseurs analogiques-numériques (DNL/INL) et le bruit de phase des oscillateurs à commande de tension (VCO), tout en réduisant la complexité de la configuration et en améliorant la répétabilité des mesures.

Solution de caractérisation des convertisseurs analogiques-numériques (ADC) et des oscillateurs commandés en tension (VCO)

Le processus de caractérisation de la linéarité des convertisseurs analogiques-numériques (ADC) et du bruit de phase des oscillateurs à commande de tension (VCO) nécessite d'appliquer une tension ou un courant hautement stable et à faible bruit au dispositif testé, tout en surveillant simultanément sa réponse. La solution utilise une source d'alimentation de précision à faible bruit dotée de capacités de mesure intégrées pour fournir une alimentation précise et des mesures en temps réel, garantissant ainsi des résultats de test reproductibles et d'une grande fiabilité. Les alimentations CC de table Keysight B2962C Pro fournissent une tension et un courant de sortie haute résolution avec un bruit ultra-faible, permettant une polarisation propre pour les dispositifs analogiques et RF sensibles. Leurs fonctions de mesure intégrées éliminent le besoin d'instruments séparés, simplifiant ainsi la configuration de test et réduisant la complexité de la synchronisation. Le filtrage intégré réduit encore davantage le bruit de sortie, minimisant ainsi les interférences lors de mesures telles que les balayages de linéarité des convertisseurs analogiques-numériques (ADC) et l'évaluation du bruit de phase des oscillateurs commandés en tension. Cette architecture prend en charge l'alimentation et la mesure combinées dans un seul instrument, améliorant ainsi l'efficacité, réduisant le temps de configuration et permettant une caractérisation cohérente et reproductible dans des environnements de test électronique avancés.
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