Analizador de dispositivos de potencia / Trazador de curvas Pruebas de alta potencia para dispositivos de Si, SiC y GaN

• Medición fiable y repetible de las características dinámicas de los semiconductores de potencia de banda ancha (SiC, GaN) para dispositivos discretos y módulos de potencia.
• Las características medidas incluyen encendido, apagado, conmutación, recuperación inversa, carga de puerta y muchas otras.
• Sonda aislada True Pulse para medir el dispositivo de alto voltaje de un módulo de potencia.
• Tecnología de contacto sin soldadura para obtener resultados repetibles y fiables sin necesidad de soldar.
• Entorno de prueba seguro tanto para el dispositivo bajo prueba como para el usuario.
• Plataforma modular personalizable, ampliable y actualizable que permite realizar pruebas en todos los dispositivos de potencia.

Como solución de medición lista para usar, el PD1550A ofrece mediciones fiables y repetibles de módulos de potencia semiconductores de banda ancha. La plataforma garantiza la seguridad del usuario y la protección del hardware de medición del sistema. La capacidad de garantizar resultados repetibles y fiables en las pruebas de doble pulso (DPT) se basa en los más de 80 años de experiencia de Keysight en la ciencia de la medición. Con la experiencia adquirida al trabajar en estrecha colaboración con los clientes y las organizaciones de normalización con el PD1500A, Keysight ahora ayuda a los clientes a superar los retos de la caracterización dinámica de los módulos de potencia WBG. Algunos ejemplos son las innovaciones en pruebas de alta frecuencia (rango de gigahercios), baja fuga (rango de femtoamperios) y potencia pulsada (corriente de 1500 A, resolución de 10 μs). Como resultado, Keysight se encuentra en una posición única para ayudarle a superar los retos de la caracterización dinámica de semiconductores de potencia.

El PD1550A incluye técnicas de medición avanzadas estándar, como compensación de sonda, ajuste de offset, corrección de desviación y rechazo de ruido en modo común. Estas técnicas se utilizan dentro de una topología y un diseño de medición innovadores. Se ha desarrollado específicamente para este sistema una rutina de calibración semiautomática (AutoCal) que corrige los errores de ganancia y offset del sistema. El sistema también utiliza técnicas de desincrustación para compensar los parásitos inductivos en la derivación de corriente. La tecnología True Pulse Isolate Probe para mediciones precisas de Vgs en el lado alto y la tecnología de contacto sin soldadura permiten realizar mediciones repetibles y fiables sin tener que soldar grandes almohadillas de contacto.

El Consejo Conjunto de Ingeniería de Dispositivos Electrónicos (JEDEC) es líder mundial en el desarrollo de estándares abiertos y publicaciones para la industria microelectrónica. Los comités de JEDEC proporcionan liderazgo industrial en el desarrollo de estándares para una amplia gama de tecnologías.

Comité JEDEC: JC-70 Semiconductores de conversión electrónica de potencia de banda ancha
Las normas JEDEC reconocieron la necesidad de proporcionar normas WBG para la industria de semiconductores de potencia. En septiembre de 2017, se formó el comité JC70 de semiconductores de conversión electrónica de potencia de banda ancha para GaN JC70.1 y SiC JC-70.2. Cada sección cuenta con tres grupos de trabajo que se centran en los procedimientos de fiabilidad y cualificación, los elementos y parámetros de las hojas de datos, y los métodos de prueba y caracterización.

Keysight participa activamente en el desarrollo de estas normas.

A medida que JEDEC continúa definiendo las pruebas dinámicas de los dispositivos WBG, están empezando a surgir algunas pruebas estandarizadas. El PD1500A DPT de Keysight determina estos parámetros clave de rendimiento:

• Características de encendido
• Características de desconexión
• Resistencia dinámica a la conexión
• Corriente y tensión dinámicas
• Características de conmutación