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Pruebas de fuentes de alimentación conmutadas
Aprende técnicas prácticas para acelerar la validación de fuentes de alimentación con conmutación (SMPS)
Esta nota de aplicación muestra cómo caracterizar y validar las fuentes de alimentación conmutadas (SMPS). Aprenderás:
Cómo medir los parámetros críticos de la potencia de entrada, entre ellos la calidad de la energía, los armónicos de corriente y la corriente de arranque, para garantizar el cumplimiento de la normativa y un funcionamiento fiable.
Cómo analizar el comportamiento de conmutación mediante la medición de las pérdidas de conmutación, la resistencia en estado activo entre el drenaje y la fuente (Rds(on)) y las velocidades de respuesta, con el fin de optimizar la eficiencia y el rendimiento.
Cómo verificar la integridad de la potencia de salida mediante mediciones de ondulación, respuesta transitoria, tiempos de encendido y apagado, y eficiencia.
Cómo el software de análisis de potencia automatizado simplifica la configuración, agiliza la depuración y ofrece mediciones repetibles en todo el sistema de conversión de potencia.
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Caracterización de fuentes de alimentación, acelerada por el MXR
El software de pruebas de fuentes de alimentación para el osciloscopio MXR simplifica la validación de las fuentes de alimentación mediante mediciones de caracterización automatizadas, entre las que se incluyen la relación de rechazo de la fuente de alimentación (PSRR) y la respuesta del bucle de control (diagramas de Bode). Las pruebas de máscaras de formas de onda multicanal también permiten realizar un análisis detallado de la activación y la desactivación de hasta ocho líneas de alimentación.
Combina la arquitectura de medición de bajo ruido del MXR y el análisis acelerado por hardware con el software de pruebas de fuentes de alimentación para ofrecer resultados rápidos y fiables. Con un ancho de banda de hasta 6 GHz, hasta 8 canales analógicos y una rápida frecuencia de muestreo de 16 GSa/s, el MXR agiliza la depuración y la validación de las fuentes de alimentación.
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