Wie man saubere HF-Signale für die Prüfung von Analog-Digital-Wandlern erzeugt

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Ansteuerung von Analog-Digital-Wandlern mit sauberem HF-Signal

Die Prüfung von Analog-Digital-Wandlern (ADCs) nutzt ein kontrolliertes Hochfrequenzsignal, um das Verhalten des Wandlers unter definierten Frequenz- und Amplitudenbedingungen zu bewerten. Der Versuchsaufbau umfasst typischerweise einen hochreinen Analogsignalgenerator, kalibrierte Kabel oder Filter, gegebenenfalls einen Takt- oder Synchronisationspfad sowie einen Digitalisierer oder eine Analyseumgebung zur Auswertung der Wandlerausgangsdaten.

Konfigurieren Sie die Signalquelle für die erforderliche Trägerfrequenz, den Ausgangspegel und die spektrale Reinheit. Messen Sie anschließend Frequenzgang, Verzerrungen, störungsfreien Dynamikbereich und Signal-Rausch-Verhältnis durch einen Sweep oder Step-Test des Signals. Geringes Phasenrauschen, niedriger Störanteil und eine hohe Oberwellenunterdrückung tragen dazu bei, quellenbedingte Artefakte bei der Bewertung des Wandlerverhaltens zu reduzieren.

Testlösung für saubere HF-Analog-Digital-Wandler

Für die Prüfung von Analog-Digital-Wandlern (ADCs) ist ein spektral sauberes Hochfrequenz-Eingangssignal mit stabiler Pegelregelung und geringer quellenbedingter Verzerrung erforderlich. Diese Lösung nutzt einen hochreinen Analogsignalgenerator, um einen kontrollierten HF-Stimulus für die dynamische Prüfung des ADC bereitzustellen. Ingenieure können Frequenz, Ausgangsleistung, Schaltverhalten und spektrale Reinheit konfigurieren, um Frequenzgang, Verzerrung, störungsfreien Dynamikbereich und Signal-Rausch-Verhältnis zu messen. Das System trägt dazu bei, Unsicherheiten durch Phasenrauschen, Oberwellenanteil, Störsignale und Ausgangsinstabilität bei der Bewertung des Wandlerverhaltens über verschiedene Frequenz- und Leistungsbereiche zu reduzieren.
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Siehe Blockdiagramm der Testlösung für einen sauberen HF-Analog-Digital-Wandler.

Blockdiagramm der Testlösung für einen sauberen HF-Analog-Digital-Wandler

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