Comment générer un signal RF propre pour les tests de convertisseurs analogique-numérique

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Piloter des convertisseurs analogiques-numériques avec un signal RF propre

Les tests des convertisseurs analogique-numérique (CAN) utilisent un signal de stimulation radiofréquence contrôlé pour évaluer le comportement du convertisseur dans des conditions de fréquence et d'amplitude définies. Le dispositif comprend généralement un générateur de signaux analogiques de haute pureté, un câblage ou un filtrage étalonné, une voie d'horloge ou de synchronisation si nécessaire, ainsi qu'un numériseur ou un environnement d'analyse permettant d'évaluer les données de sortie du convertisseur.

Configurez la source de signal en fonction de la fréquence porteuse, du niveau de sortie et de la pureté spectrale requis, puis effectuez un balayage ou un balayage pas à pas du signal afin de mesurer la réponse en fréquence, la distorsion, la plage dynamique sans parasites et le rapport signal/bruit. Un faible bruit de phase, un faible niveau de parasites et d'excellentes performances harmoniques contribuent à réduire les artefacts liés à la source lors de l'évaluation de la réponse du convertisseur.

Solution de test pour convertisseurs analogique-numérique RF sans interférences

Les tests des convertisseurs analogique-numérique (ADC) nécessitent un signal d'entrée radiofréquence (RF) spectralement propre, avec un contrôle de niveau stable et une faible distorsion liée à la source. Cette solution utilise un générateur de signaux analogiques de haute pureté pour fournir un stimulus RF contrôlé destiné aux tests dynamiques des ADC. Les ingénieurs peuvent configurer la fréquence, la puissance de sortie, le comportement de commutation et les conditions de pureté spectrale afin de prendre en charge les mesures de réponse en fréquence, de distorsion, de plage dynamique exempte de parasites et de rapport signal/bruit. Cette configuration permet de réduire l’incertitude liée au bruit de phase, au contenu harmonique, aux signaux parasites et à l’instabilité de sortie lors de l’évaluation de la réponse du convertisseur dans différentes conditions de fréquence et de puissance.

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Schéma fonctionnel d'une solution de test pour un convertisseur analogique-numérique RF sans interférences

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