Wie man die Integrität von ICT-Einrichtungen überprüft

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Konnektivität der ICT-Einrichtung prüfen

Die Validierung von In-Circuit-Testvorrichtungen (ICT) erfordert die Überprüfung der elektrischen Verbindungen zwischen Prüfspitzen, Verdrahtung und Testknoten über die Schnittstelle einer Leiterplattenbaugruppe. Dieser Prozess umfasst Draht-zu-Draht-, Prüfspitzen-zu-Prüfspitzen- und Prüfspitzenpräsenztests mithilfe kontrollierter Relaiskonfigurationen und Erdungsbedingungen. Zu den Messungen gehören die Erkennung von Unterbrechungen und unbeabsichtigten Kurzschlüssen sowie die Überprüfung der Prüfspitzenpositionierung mithilfe von Hilfsmitteln wie Staubschutzkappen und Kurzschlussplatten zur Simulation von Testbedingungen.

Der Validierungsworkflow umfasst verschiedene Testmodi, darunter Durchgangsprüfungen der Leitungen bei geöffneten und geschlossenen Relais, Überprüfung der Sondenpräsenz mittels Kurzschlussplatte und Isolationstests zwischen Sondengruppen. Die automatisierte Testgenerierung und -ausführung erzeugen detaillierte Berichte, die Fehlerstellen wie fehlende Sonden, unterbrochene Verbindungen oder fehlerhafte Verdrahtung identifizieren. Anhand dieser Ergebnisse können Ingenieure Fehler in allen Prüfvorrichtungsknoten vor der Durchführung des Funktionstests lokalisieren.

Lösung zur Überprüfung von ICT-Einrichtungen

Die Überprüfung von Testvorrichtungen erfordert umfassende Verbindungstests aller Sonden- und Verdrahtungspfade vor dem Produktionseinsatz. Die Lösung nutzt ein Keysight-In-Circuit-Testsystem mit integrierten Funktionen zur Testvorrichtungsprüfung, um Validierungstestprogramme automatisch zu generieren und auszuführen. Es führt Durchgangsprüfungen zwischen den Leitungen, Sondenvalidierungen und Kurzschlusserkennung in verschiedenen Testmodi durch, darunter BRC-zu-BRC-, GP-zu-GP- und Sondenvalidierungstests. Das System bietet automatisierte Testgenerierung, Ausführungsmakros und detaillierte Fehlerberichte. Es erkennt Probleme wie fehlende Sonden, fehlerhafte Verdrahtung, offene Stromkreise und unbeabsichtigte Kurzschlüsse. Durch die frühzeitige Validierung der Testvorrichtungsintegrität können Ingenieure einen zuverlässigen elektrischen Kontakt und eine konsistente Testabdeckung über alle Systemknoten hinweg sicherstellen.
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