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Parallele Testsysteme
Skalierbares und flexibles Testen für komplexe Leiterplattenbaugruppen
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Boundary Scan-Analysatoren
Effiziente Fehlerisolierung mit Pin-Level-Präzision
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Funktionstestsysteme
Integriertes Funktionsprüfsystem für zuverlässige Produktionsergebnisse
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In-Circuit-Testsysteme
Präzise Fehlererkennung für Leiterplatten mit hoher Dichte
Parallele Testsysteme
Die parallelen Testsysteme von Keysight bieten vielseitige und skalierbare Lösungen für unterschiedlichste Testanforderungen in der Fertigung. Advanced Das Modell bietet eine kompakte, kostengünstige Plattform für Mixed-Signal-PCB-Tests mit integrierten Analog-, Digital- und Boundary-Scan-Funktionen. Es vereinfacht die Testentwicklung und -integration und eignet sich daher hervorragend für schlanke Produktionsumgebungen. Expert Dieses Modell bietet mit Tausenden simultanen Testkanälen, modularer Architektur und umfassender Abdeckung – einschließlich In-Circuit-, Boundary-Scan- und Funktionstests – einen unübertroffenen Durchsatz für anspruchsvolle Anwendungen. Das System eignet sich hervorragend für die Fertigung von Produkten mit hoher Variantenvielfalt und großen Stückzahlen und ermöglicht schnelle Diagnosen sowie eine nahtlose Automatisierungsintegration. Entdecken Sie unsere breite Palette an parallelen Testsystemen – von fortschrittlichen bis hin zu Experten-Leistungsklassen – und finden Sie das passende System für Ihre Anwendung. Benötigen Sie Unterstützung bei der Auswahl? Nutzen Sie die folgenden Ressourcen.
Advanced
Expert
Boundary Scan-Analysatoren
Keysight Boundary-Scan-Analysatoren bieten fortschrittliche digitale Testfunktionen für hochdichte Leiterplatten und ermöglichen eine präzise Fehlerlokalisierung ohne physischen Zugriff mit Sonden. Das System ist für effiziente Strukturtests konzipiert und bietet eine schnelle Diagnose von Verbindungen, Kurzschlüssen, Unterbrechungen und permanenten Fehlern in komplexen digitalen Baugruppen. Dank nahtloser Integration in In-Circuit- und Funktionstestsysteme unterstützt Boundary Scan JTAG-basierte Scan-Ketten. Es ermöglicht den Zugriff auf schwer erreichbare Netze, verkürzt die Testentwicklungszeit und verbessert die Testabdeckung. Entdecken Sie unsere Boundary-Scan-Systeme und finden Sie das passende für Ihre Anwendung. Benötigen Sie Hilfe bei der Auswahl? Nutzen Sie die folgenden Ressourcen.
Funktionale Testsysteme
Die Funktionstestsysteme von Keysight bieten eine modulare und flexible Lösung für die Prüfung komplexer elektronischer Baugruppen. Dank präziser Messung, hochdichter Schaltung, konfigurierbarer Stromversorgung und synchronisierter Signalerfassung unterstützt das System ein breites Spektrum an analogen, digitalen und Mixed-Signal-Anwendungen. Integrierte Automatisierung und Echtzeitüberwachung optimieren die Testentwicklung und verbessern die Testabdeckung. Dadurch eignet es sich ideal zur Validierung von Geräten wie Steuergeräten für die Automobilindustrie, industriellen Steuerungen und Embedded-Boards. Entdecken Sie unsere vielfältigen Funktionstestsysteme und finden Sie das passende für Ihre Anwendung. Benötigen Sie Unterstützung bei der Auswahl? Nutzen Sie die unten stehenden Ressourcen.
In-Circuit Test Systeme
Die In-Circuit-Testsysteme von Keysight bieten leistungsstarke und skalierbare Lösungen für die Prüfung komplexer, dicht bestückter Leiterplatten in der Serienfertigung. Dank flexibler Pin-Konfigurationen, Unterstützung für Boundary-Scanning, vektorloser Testfunktionen und programmierbarer analoger Messungen gewährleisten diese Systeme die schnelle und präzise Erkennung von Montagefehlern wie Lötfehlern, falsch ausgerichteten Bauteilen und falschen Werten. Integrierte Diagnosefunktionen, intuitive Testentwicklungstools und die Möglichkeit zur Automatisierung optimieren die Produktionsabläufe, reduzieren Fehlalarme und verbessern die Ausbeute im ersten Durchlauf. Entdecken Sie unsere breite Palette an In-Circuit-Testsystemen und finden Sie das passende System für Ihre Anwendung. Benötigen Sie Unterstützung bei der Auswahl? Nutzen Sie die folgenden Ressourcen.
Vertrauen in die Fahrzeugelektronikprüfung
Automobilelektronik erfordert präzise und umfassende Tests, um Zuverlässigkeit und Sicherheit zu gewährleisten. Die In-Circuit-Testsysteme von Keysight bieten wichtige Funktionen wie Niedrigstrommessungen, Superkondensatortests, LED-Diagnostik und schnelle Kurzschlusserkennung – ideal für Module wie Steuergeräte, Motorsteuergeräte und Sensorplatinen. Lösungen mit hohem Durchsatz testen kompakte Platinen effizient parallel, während Boundary-Scan-Tools die Abdeckung für schwer zugängliche Bereiche erweitern. Zusammen gewährleisten diese Tools Leistung und Qualität für Automobilelektronik mit hoher und niedriger Komplexität.
Entdecken Sie kompatible Software und Zubehör für Ihre In-Circuit-Testlösung für die Fertigung.
Wählen Sie aus einer breiten Palette von In-Circuit-Testsoftware für eine optimierte Testprogrammerstellung, erweiterte Fehlerdiagnose und optimierte Testabdeckung. Ergänzen Sie Ihr ICT-System mit Zubehör wie Testvorrichtungen, Tastkopfmodulen, Boundary-Scan-Tools, Kabelkonfektionen, Sensorplatten, Einzeltastköpfen und vielem mehr.
Erkunden Sie In-Circuit-Tests für Fertigungsanwendungsfälle
In-Circuit-Tests für die Fertigung unterstützen ein breites Spektrum an Tests in verschiedenen Branchen – entdecken Sie sie alle.
Herstellung
Durchführung von Schwachstrommessungen auf PCBAs
Integrieren Sie eine Quellmesseinheit in den In-Circuit-Tester.
Herstellung
Wie man einen In-Circuit-Tester in Industrie 4.0 integriert
In-Circuit-Tester und IPC-CFX ermöglichen Fabriken der Industrie 4.0.
Herstellung
Beschleunigung von Kurztests für hochohmige Knotenpunkte
Implementieren Sie den verbesserten Kurztestalgorithmus in einem In-Circuit-Testsystem, um die Testzeit für Kurztests zu verkürzen.
Dienstleistungen und Support
Innovieren Sie im Handumdrehen mit maßgeschneiderten Supportplänen und priorisierten Reaktions- und Bearbeitungszeiten.
Profitieren Sie von planbaren, leasingbasierten Abonnements und umfassenden Lifecycle-Management-Lösungen – damit Sie Ihre Geschäftsziele schneller erreichen.
Als KeysightCare-Abonnent profitieren Sie von einem erweiterten Service mit zuverlässiger technischer Unterstützung und vielem mehr.
Stellen Sie sicher, dass Ihr Testsystem den Spezifikationen entspricht und sowohl lokale als auch globale Standards erfüllt.
Schnelle Messungen dank hauseigener, von Ausbildern geleiteter Schulungen und E-Learning.
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Häufig gestellte Fragen
Die In-Circuit-Prüfung (ICT) ist entscheidend für die Überprüfung der elektrischen und strukturellen Qualität von Leiterplatten unmittelbar nach der Bestückung. Sie stellt sicher, dass alle Bauteile wie Widerstände, Kondensatoren, Dioden und ICs korrekt platziert, ausgerichtet und verlötet sind. Dazu gehört die Prüfung auf Unterbrechungen, Kurzschlüsse, fehlende oder falsche Bauteile sowie fehlerhafte Lötstellen. Durch die Erkennung dieser Fehler vor der Inbetriebnahme reduziert die ICT das Risiko von Bauteilbeschädigungen und verhindert, dass fehlerhafte Leiterplatten in der Produktionslinie weiterverarbeitet werden. Dieser proaktive Prüfansatz verbessert die Ausbeute und Produktzuverlässigkeit und senkt die Reparatur- und Nacharbeitskosten erheblich, was zu einer effizienteren und zuverlässigeren Fertigung beiträgt.
In-Circuit-Testing (ICT) und Funktionstests dienen im Leiterplattenfertigungsprozess unterschiedlichen Zwecken. ICT wird an einer stromlosen Leiterplatte mithilfe einer Nadelbettvorrichtung oder eines Flying-Probe-Systems durchgeführt. Dabei wird jedes Bauteil elektrisch isoliert, um korrekte Platzierung, Ausrichtung, Wert und Lötstellen zu prüfen. Dieser Test identifiziert schnell Strukturfehler wie Unterbrechungen, Kurzschlüsse, falsche Bauteile und Lötstellenprobleme, bevor die Stromversorgung erfolgt. Dadurch werden Risiken und Reparaturkosten minimiert.
Funktionstests hingegen werden nach der ICT durchgeführt und schalten die Platine ein, um ihre tatsächliche Betriebsumgebung zu simulieren. Sie validieren das Verhalten der Platine und prüfen, ob Ein- und Ausgänge korrekt reagieren, Mikrocontroller Code ausführen und Systemfunktionen wie erwartet funktionieren. Dieser Test verifiziert Leistung, Timing und Interaktion zwischen Komponenten, die von der ICT nicht erfasst werden können.
Kurz gesagt: Die Informations- und Kommunikationstechnologie (IKT) stellt sicher, dass die Platine korrekt aufgebaut ist, während Funktionstests ihre korrekte Funktion gewährleisten. Beide ergänzen sich und werden häufig gemeinsam eingesetzt, um eine hohe Testabdeckung und zuverlässige Produktleistung sicherzustellen.
Absolut. In-Circuit-Testing (ICT) ist speziell für die Serienfertigung konzipiert. Es ermöglicht schnelles, wiederholbares und automatisiertes Testen und ist damit ideal für Produktionslinien, die täglich Hunderte oder Tausende von Leiterplatten (PCBs) fertigen. Testvorrichtungen gewährleisten ein schnelles und sicheres Einlegen der Leiterplatten, während automatisierte Softwaresequenzen den Testprozess mit minimalem menschlichen Eingriff steuern. Typische Testzeiten liegen zwischen wenigen Sekunden und unter einer Minute pro Leiterplatte und ermöglichen so einen hohen Durchsatz. Die hohe Fehlerabdeckung und die konsistenten Ergebnisse sichern Produktionseffizienz und Produktqualität auch bei großen Stückzahlen.
Moderne Leiterplatten werden immer komplexer, mit höherer Bauteildichte, kleineren Bauformen und dem weitverbreiteten Einsatz von Oberflächenmontagetechnik (SMT) und Mehrlagen-Designs. Diese Entwicklungen schränken den physischen Testzugang ein, es stehen weniger Testflächen für Prüfspitzen zur Verfügung, und die dicht gepackten Bauteile erschweren die Konstruktion von Testvorrichtungen. Darüber hinaus kann die ICT-Prüfung programmierbare Bausteine, verschlüsselte ICs oder Bauteile mit eingeschränktem oder keinem elektrischen Zugang (z. B. BGAs oder eingebettete passive Bauelemente) nicht effektiv testen. Daher muss die ICT-Prüfung häufig durch Boundary-Scan- oder Funktionstests ergänzt werden, um eine vollständige Abdeckung zu gewährleisten.
In-Circuit-Testing (ICT) verbessert die Fertigungsqualität durch die frühzeitige Erkennung von Montagefehlern in der Produktion, noch bevor die Platine mit Strom versorgt wird. Durch die Überprüfung der korrekten Platzierung, Ausrichtung und elektrischen Integrität der Bauteile beugt ICT latenten Fehlern vor, die im Feld zu intermittierenden Ausfällen führen könnten. Die automatisierte und wiederholbare Durchführung gewährleistet eine konsistente Prüfung in der Serienproduktion und reduziert so die Variabilität. Durch die Identifizierung fehlender Bauteile, Lötbrücken und falscher Werte trägt ICT zur Aufrechterhaltung der Produktzuverlässigkeit bei, senkt die Nacharbeitsquote und trägt zu höherer Ausbeute und Kundenzufriedenheit bei.