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 Advanced Option für die GUI der Functional Interconnect Test Solutions für das FITS-16CH-Chassis

Diese Teilenummer beinhaltet eine erweiterte Option für die GUI der Functional Interconnect Test Solutions für das FITS 16CH-Chassis.

Produktbild

  • Number of channels

    Independent 16 Tx and 16 Rx

  • Lane Speeds

    212.5 Gb/s, 106.25 Gb/s

  • Interface

    FEC stats, Auto-lane tuning with Keysight DCA

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Highlights

  • Hochgeschwindigkeits-Mehrkanaltests:
    • (16) unabhängige Sende- und (16) unabhängige Empfangs-Differenzialkanäle unterstützen PAM4-Signalisierungsgeschwindigkeiten von 53 Gbit/s, 106 Gbit/s und 212,5 Gbit/s. FITS-16CH kann die Bitfehlerrate (BER) in Echtzeit auf beiden Gruppen von jeweils (8) Sende- (Tx) und (8) Empfangskanälen (Rx) gleichzeitig messen.
    • Jede Gruppe von 8 Tx- und 8 Rx-Kanälen kann entweder gemeinsam im selben Test oder unabhängig voneinander in zwei verschiedenen Tests betrieben werden.
  • Vielseitigkeit in Entwicklungs- und Fertigungsanwendungen: FITS-16CH eignet sich für eine breite Palette von Hochgeschwindigkeitsverbindungen und kann zur Validierung der Fehlerleistung in Anwendungen wie den folgenden eingesetzt werden:
    • Produktentwicklung und Qualitätssicherung für vorserienfertige, vollständig montierte Verbindungsleitungen.
    • Fertigung für Anwendungen zur mechanischen Ausrichtung von Unterbaugruppen, Temperaturprüfung, Inline-, Nearline- und End-of-Line-Fehlerleistungsvalidierung.
    • FITS-16CH ermöglicht den Anschluss von bis zu zwei Ihrer 1,85-mm-HF-Steckverbinder oder von Standard-Modul-Konformitätsplatinen mit Modulsteuerung über zwei GPIO-Schnittstellen. GPIO-Kabel sind im Lieferumfang des Gehäuses enthalten.
  • Advanced Validierung optischer und elektrischer Verbindungen:
    • Geeignet für eine breite Palette von Hochgeschwindigkeits-Verbindungstestanwendungen, einschließlich 1.6T , 800GE- und 400GE-Verbindungsstandards. Medientypen sind vollständig neu getaktete optische Transceiver (FROs, AOCs, LROs, LPOs), aktive Kupfer-AECs und -ACCs sowie passive Kupfer-DACs.
  • Entwickelt für Tests 1.6T Ethernet-Verbindungen:
    • Für Tests mit branchenüblichen Ethernet-Signalpegeln bis zu 1 Vp-p stehen zwei unabhängige Gruppen von Chip-zu-Modul-Kanälen zur Verfügung.
  • Leistung unter schwierigen Bedingungen:
    • Entwickelt für eine hervorragende Signalintegrität, um sicherzustellen, dass auch unter schwierigsten Signalbedingungen eine genaue Bitfehlerrate (BER) bei allen unterstützten Kanalgeschwindigkeiten sowie eine FEC-Symbolfehlerkorrekturanalyse und Margenbewertung für den 212-Gbit/s-Kanal und andere unterstützte Übertragungsgeschwindigkeiten erreicht werden.

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