i7090 Massiv paralleles und skalierbares Board-Test-System

Das Keysight i7090 ist ein skalierbares, massiv paralleles Testsystem mit bis zu 20 Kernen, das für die Produktion großer Stückzahlen und Produktvarianten entwickelt wurde und eine optimierte Testabdeckung sowie kurze Testzeiten bietet.

Produktbild
  • Fixture actuation

    Press down

  • Maximum parallel testing

    20

  • Maximum node count

    2560

  • System width

    1510 mm

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Highlights

Skalierbares, massiv paralleles Testen für vollständige PCBA-Abdeckung

Der Keysight i7090 (Q3000A) vereint In-Circuit-Testing (ICT), Funktionstests (FCT), In-System-Programmierung (ISP) und Boundary-Scanning auf einer skalierbaren Plattform. Er wurde für die Serienfertigung mit hoher Variantenvielfalt und großen Stückzahlen entwickelt und ermöglicht Herstellern die Konfiguration von Testressourcen für Leiterplatten mit Panelisierung oder höherer Pin-Anzahl. Zu den wichtigsten Merkmalen gehören:

  • Skalierbare parallele ICT : Konfigurieren Sie bis zu 20 Testkerne, um mehrere PCBAs gleichzeitig zu testen, oder kombinieren Sie Kerne für Platinen mit höherer Pin-Anzahl.
  • FCT-Integration : Nutzen Sie OpenTAP- und PXI-Instrumente, um dem Testablauf Funktionsmessungen hinzuzufügen.
  • Paralleler ISP : Unterstützt bis zu 160 simultane Blinkkanäle, um die Programmierzeit zu verkürzen.
  • Breite Fehlerabdeckung : Kombination von analogen, digitalen und vektorlosen NanoVTEP-Tests mit Boundary Scan.
  • Kompakter Testkopf : Ein 600 mm breiter Testkopf platziert die Testressourcen nahe an der Schnittstelle der Vorrichtung.
  • Vernetzte Produktion : Unterstützung von CFX/Hermes und Keysight PathWave für Fertigungsdaten und Automatisierungs-Workflows.