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Parallele Testsysteme
Skalierbares und flexibles Testen für komplexe Leiterplattenbaugruppen
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Boundary Scan-Analysatoren
Effiziente Fehlerisolierung mit Pin-Level-Präzision
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Funktionstestsysteme
Integriertes Funktionsprüfsystem für zuverlässige Produktionsergebnisse
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In-Circuit-Testsysteme
Präzise Fehlererkennung für Leiterplatten mit hoher Dichte
Parallele Testsysteme
Die parallelen Testsysteme von Keysight bieten vielseitige und skalierbare Lösungen für unterschiedlichste Testanforderungen in der Fertigung. Advanced Das Modell bietet eine kompakte, kostengünstige Plattform für Mixed-Signal-PCB-Tests mit integrierten Analog-, Digital- und Boundary-Scan-Funktionen. Es vereinfacht die Testentwicklung und -integration und eignet sich daher hervorragend für schlanke Produktionsumgebungen. Expert Dieses Modell bietet mit Tausenden simultanen Testkanälen, modularer Architektur und umfassender Abdeckung – einschließlich In-Circuit-, Boundary-Scan- und Funktionstests – einen unübertroffenen Durchsatz für anspruchsvolle Anwendungen. Das System eignet sich hervorragend für die Fertigung von Produkten mit hoher Variantenvielfalt und großen Stückzahlen und ermöglicht schnelle Diagnosen sowie eine nahtlose Automatisierungsintegration. Entdecken Sie unsere breite Palette an parallelen Testsystemen – von fortschrittlichen bis hin zu Experten-Leistungsklassen – und finden Sie das passende System für Ihre Anwendung. Benötigen Sie Unterstützung bei der Auswahl? Nutzen Sie die folgenden Ressourcen.
Advanced
Expert
Boundary Scan-Analysatoren
Keysight Boundary-Scan-Analysatoren bieten fortschrittliche digitale Testfunktionen für hochdichte Leiterplatten und ermöglichen eine präzise Fehlerlokalisierung ohne physischen Zugriff mit Sonden. Das System ist für effiziente Strukturtests konzipiert und bietet eine schnelle Diagnose von Verbindungen, Kurzschlüssen, Unterbrechungen und permanenten Fehlern in komplexen digitalen Baugruppen. Dank nahtloser Integration in In-Circuit- und Funktionstestsysteme unterstützt Boundary Scan JTAG-basierte Scan-Ketten. Es ermöglicht den Zugriff auf schwer erreichbare Netze, verkürzt die Testentwicklungszeit und verbessert die Testabdeckung. Entdecken Sie unsere Boundary-Scan-Systeme und finden Sie das passende für Ihre Anwendung. Benötigen Sie Hilfe bei der Auswahl? Nutzen Sie die folgenden Ressourcen.
Funktionale Testsysteme
Die Funktionstestsysteme von Keysight bieten eine modulare und flexible Lösung für die Prüfung komplexer elektronischer Baugruppen. Dank präziser Messung, hochdichter Schaltung, konfigurierbarer Stromversorgung und synchronisierter Signalerfassung unterstützt das System ein breites Spektrum an analogen, digitalen und Mixed-Signal-Anwendungen. Integrierte Automatisierung und Echtzeitüberwachung optimieren die Testentwicklung und verbessern die Testabdeckung. Dadurch eignet es sich ideal zur Validierung von Geräten wie Steuergeräten für die Automobilindustrie, industriellen Steuerungen und Embedded-Boards. Entdecken Sie unsere vielfältigen Funktionstestsysteme und finden Sie das passende für Ihre Anwendung. Benötigen Sie Unterstützung bei der Auswahl? Nutzen Sie die unten stehenden Ressourcen.
In-Circuit Test Systeme
Die In-Circuit-Testsysteme von Keysight bieten leistungsstarke und skalierbare Lösungen für die Prüfung komplexer, dicht bestückter Leiterplatten in der Serienfertigung. Dank flexibler Pin-Konfigurationen, Unterstützung für Boundary-Scanning, vektorloser Testfunktionen und programmierbarer analoger Messungen gewährleisten diese Systeme die schnelle und präzise Erkennung von Montagefehlern wie Lötfehlern, falsch ausgerichteten Bauteilen und falschen Werten. Integrierte Diagnosefunktionen, intuitive Testentwicklungstools und die Möglichkeit zur Automatisierung optimieren die Produktionsabläufe, reduzieren Fehlalarme und verbessern die Ausbeute im ersten Durchlauf. Entdecken Sie unsere breite Palette an In-Circuit-Testsystemen und finden Sie das passende System für Ihre Anwendung. Benötigen Sie Unterstützung bei der Auswahl? Nutzen Sie die folgenden Ressourcen.
Vertrauen in die Fahrzeugelektronikprüfung
Automobilelektronik erfordert präzise und umfassende Tests, um Zuverlässigkeit und Sicherheit zu gewährleisten. Die In-Circuit-Testsysteme von Keysight bieten wichtige Funktionen wie Niedrigstrommessungen, Superkondensatortests, LED-Diagnostik und schnelle Kurzschlusserkennung – ideal für Module wie Steuergeräte, Motorsteuergeräte und Sensorplatinen. Lösungen mit hohem Durchsatz testen kompakte Platinen effizient parallel, während Boundary-Scan-Tools die Abdeckung für schwer zugängliche Bereiche erweitern. Zusammen gewährleisten diese Tools Leistung und Qualität für Automobilelektronik mit hoher und niedriger Komplexität.
Entdecken Sie kompatible Software und Zubehör für Ihre In-Circuit-Testlösung für die Fertigung.
Wählen Sie aus einer breiten Palette von In-Circuit-Testsoftware für eine optimierte Testprogrammerstellung, erweiterte Fehlerdiagnose und optimierte Testabdeckung. Ergänzen Sie Ihr ICT-System mit Zubehör wie Testvorrichtungen, Tastkopfmodulen, Boundary-Scan-Tools, Kabelkonfektionen, Sensorplatten, Einzeltastköpfen und vielem mehr.
Erkunden Sie In-Circuit-Tests für Fertigungsanwendungsfälle
In-Circuit-Tests für die Fertigung unterstützen ein breites Spektrum an Tests in verschiedenen Branchen – entdecken Sie sie alle.
Herstellung
Durchführung von Schwachstrommessungen auf PCBAs
Integrieren Sie eine Quellmesseinheit in den In-Circuit-Tester.
Herstellung
Wie man einen In-Circuit-Tester in Industrie 4.0 integriert
In-Circuit-Tester und IPC-CFX ermöglichen Fabriken der Industrie 4.0.
Herstellung
Beschleunigung von Kurztests für hochohmige Knotenpunkte
Implementieren Sie den verbesserten Kurztestalgorithmus in einem In-Circuit-Testsystem, um die Testzeit für Kurztests zu verkürzen.
Dienstleistungen und Support
Innovieren Sie im Handumdrehen mit maßgeschneiderten Supportplänen und priorisierten Reaktions- und Bearbeitungszeiten.
Profitieren Sie von planbaren, leasingbasierten Abonnements und umfassenden Lifecycle-Management-Lösungen – damit Sie Ihre Geschäftsziele schneller erreichen.
Als KeysightCare-Abonnent profitieren Sie von einem erweiterten Service mit zuverlässiger technischer Unterstützung und vielem mehr.
Stellen Sie sicher, dass Ihr Testsystem den Spezifikationen entspricht und sowohl lokale als auch globale Standards erfüllt.
Schnelle Messungen dank hauseigener, von Ausbildern geleiteter Schulungen und E-Learning.
Laden Sie die Keysight-Software herunter oder aktualisieren Sie Ihre Software auf die neueste Version.
Häufig gestellte Fragen
Wählen Sie ein ICT-System basierend auf Leiterplattendichte, Produktionsvolumen und Testabdeckungsanforderungen. Berücksichtigen Sie Folgendes:
Systemfähigkeit: Die ICT-Systeme von Keysight Technologies unterstützen hochdichte Leiterplatten, Bauteile mit feiner Rasterteilung und komplexe Mehrlagenplatinen.
Strategie für die Vorrichtungsauswahl: Bewerten Sie die Kosten, Skalierbarkeit und Haltbarkeit der Vorrichtungen im Hinblick auf Ihren Durchsatz.
Software & Analytik: Die Software von Keysight Technologies ermöglicht Diagnose, Ertragssteigerung und Integration in weltweit eingesetzte intelligente Fabriken.
Fertigungsanpassung: Sicherstellung der Kompatibilität mit in Nordamerika, Europa und Asien eingesetzten Produktionslinien.
Moderne Herausforderungen: IKT-Systeme benötigen möglicherweise ergänzende Tests (z. B. AOI, Funktionstests) zur Absicherung von Abdeckungslücken und für fortgeschrittene Softwarepakete.
Wählen Sie ein ICT-System, indem Sie die technischen Spezifikationen mit der Komplexität der Leiterplatte und den Produktionszielen abstimmen. Wichtige Faktoren sind:
Pin-Anzahl / Knotenkapazität: Die ICT-Systeme von Keysight Technologies skalieren von Hunderten bis Tausenden von Testknoten (z. B. bis zu ~5760 Knoten), um hochdichte Platinen zu unterstützen.
Testabdeckung: Gewährleisten Sie eine hohe Fehlerabdeckung (Kurzschlüsse, Unterbrechungen, Bauteilwerte) und die Unterstützung von Boundary Scan oder vektorlosen Tests für nicht erreichbare Knoten.
Testgeschwindigkeit / Durchsatz: Hochgeschwindigkeits-Parametertests und parallele Messungen verkürzen die Zykluszeit bei der Serienfertigung.
Automatisierung & Integration: Die Systeme von Keysight Technologies lassen sich in automatisierte Produktionslinien und Industrie 4.0-Analysen für globale Fabriken integrieren.
Kompatibilität der Vorrichtungen: Die Vorrichtungen für die Nagelbettmontage müssen mit dem Leiterplattendesign, der Zugänglichkeit und den Kostenbeschränkungen kompatibel sein.
Moderne Überlegungen: Die Kombination von ICT mit AOI oder Funktionstests hilft, Abdeckungslücken und komplexe Pakete zu beheben.
In-Circuit-Testing (ICT), einschließlich Lösungen von Keysight Technologies , deckt viele Fertigungsfehler auf Komponentenebene auf. Zu den wichtigsten Funktionen gehören:
Erkennbare Mängel:
Kurzschlüsse, offene Stellen und fehlende Komponenten
Falsche Bauteilwerte (R, L, C)
Polaritäts-/Orientierungsprobleme (Dioden, Kondensatoren, ICs)
Grundlegender Halbleiterfehler
Einschränkungen / moderne Herausforderungen:
Eingeschränkter Zugriff auf hochdichte oder feinrasterbestückte Leiterplatten
Reduzierte Abdeckung für BGAs, gestapelte Gehäuse und HF-Schaltungen
Komplementäre Methoden:
AOI/AXI für Löt- und verdeckte Verbindungen
Funktionstest zur Validierung auf Systemebene
Randabtastung nach unzugänglichen Knoten
Die ICT-Systeme von Keysight Technologies sind weltweit in Produktionsstätten weit verbreitet und werden oft mit diesen Methoden kombiniert, um eine vollständige Abdeckung zu gewährleisten.
Nagelbett- und Flugsondenverfahren sind zwei in der globalen Fertigungsindustrie eingesetzte ICT-Ansätze. Keysight Technologies unterstützt beide Verfahren durch ICT-Systeme, Vorrichtungen und Software.
ICT-System für Nagelbetten:
Verwendet spezielle Vorrichtungen mit Federstiften, die alle Testpunkte gleichzeitig kontaktieren.
Hohe Geschwindigkeit, hohe Abdeckung, ideal für die Produktion großer Stückzahlen
Höhere Anschaffungskosten für die Einrichtung
Fliegende Sonde ICT:
Verwendet bewegliche Sonden, keine Vorrichtung erforderlich
Kostengünstiger, flexibel für Prototypen und Kleinserien
Langsamere Testgeschwindigkeit und geringerer Durchsatz
Wann verwenden?
Nagelbett: stabile Konstruktionen, Massenproduktion (Werke in Nordamerika, Europa und Asien)
Fliegende Sonde: NPI, häufige Designänderungen
Moderne Überlegungen:
Komplexe Leiterplatten erfordern möglicherweise ergänzende AOI- oder Funktionstests für eine vollständige Abdeckung.
In-Circuit-Testing (ICT) integriert sich in Industrie 4.0 und ermöglicht datengesteuerte, automatisierte Fertigung. Die ICT-Systeme, Vorrichtungen und Software von Keysight Technologies sind für intelligente Fabrikumgebungen konzipiert, die weltweit eingesetzt werden.
Automatisierungsintegration:
Nahtlose Anbindung an SMT-Linien, Handler und MES-Systeme
Unterstützt die Fertigung im unbemannten Zustand in Nordamerika, Europa und Asien.
Daten & Analysen:
Die Software von Keysight Technologies bietet Echtzeitdiagnose, Ertragsanalyse und Rückverfolgbarkeit.
Ermöglicht vorausschauende Wartung und Prozessoptimierung
Konnektivität:
Standardisierte Schnittstellen für IIoT-, Cloud- und Fabriknetzwerke
Moderne Herausforderungen:
Komplexe Leiterplatten erfordern die Kombination von ICT mit AOI, AXI und Funktionstests.
Die systemübergreifende Datenintegration ist nach wie vor entscheidend für die volle Wertschöpfung.
Testabdeckung, Vorrichtungsdesign und Kosten in der Informations- und Kommunikationstechnologie (IKT) hängen von den Anforderungen an Leiterplattendesign und -fertigung ab. Die IKT-Systeme, Vorrichtungen und Software von Keysight Technologies tragen dazu bei, diese Kompromisse in Fabriken weltweit zu optimieren.
Leiterplattendesign & Zugänglichkeit:
Die erreichbare Testpunktdichte, die Padgröße und der Bauteilabstand beeinflussen die erreichbare Testabdeckung.
Komplexität der Vorrichtung:
Nagelbettvorrichtungen erhöhen die Abdeckung und Geschwindigkeit, verursachen aber höhere Anschaffungs- und Wartungskosten.
Deckungsanforderungen:
Eine höhere Fehlerabdeckung (analog, digital, RF) kann erweiterte Funktionen von Keysight Technologies- Systemen erfordern.
Produktionsvolumen:
Hohe Stückzahlen rechtfertigen Investitionen in die Betriebsausstattung; niedrige Stückzahlen sprechen für flexible Lösungsansätze.
Moderne Herausforderungen:
Dicht bestückte Leiterplatten und BGAs erschweren den Zugang und erfordern ergänzende Boundary-Scans oder Funktionstests.