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i3070 In-Circuit Test System Software
Experience enhanced testing capabilities with i3070 In-Circuit Test System Software
Improve your i3070 in-circuit test system's test performance with advanced software that increases test throughput and coverage. Expand your testing capabilities and optimize your manufacturing process with these powerful tools.
Our software licenses include the following:
- Advanced Throughput Multiplier, which can save up to 50% of test time.
- Native testing software licenses for boundary scan-related tests that cover IEEE 1149.1 and 1149.6 standards.
- Keysight's Cover Extend Technology (CET) for extending test coverage to non-boundary scan devices using nanoVTEP and CET Signal Conditioner Card.
- Silicon Nails feature uses boundary scan device drivers and receivers to test non-boundary scan devices connected to the chain flashing test capability through Flash ISP and PLD ISP features.
- DGN Advanced Reporting feature for diagnostic testing.
- Yearly software updates for test development and runtime to keep your testing up-to-date.
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Boundary scan is a method for testing interconnections on printed circuit boards. Keysight’s Interconnect Plus Boundary Scan feature enables all the tools required to develop and execute this foundational test method on the board under test.
Keysight’s Interconnect Plus Boundary Scan 1149.6 feature enables all the tools required to develop and execute this test method on the board under test. Compared to the 1149.1 standards, the 1149.6 standards define test methods for the boundary scan devices that are designed with AC coupled signals or differential nets needed for high-speed operations of the device.
Keysight’s Silicon Nails feature enables all the tools required to develop and execute tests on non-compliant boundary scan devices that are connected to boundary scan compliant devices on the printed circuit board.
The Advanced Throughput Multiplier feature allows you to test up to two 1000 to 2000 node (between 1296 and 2592 nodes) boards simultaneously on a 4 module tester, thus dividing the test time by half.
Cover-Extend Technology (CET) extends the Boundary Scan limited access solution on non-boundary scan devices with the use of VTEP or nanoVTEP and CET signal conditioner card hardware.
The DriveThru feature enables the test development software to test integrated circuits or connectors when there are no test points assigned between the resistor and the device.
The Flash ISP feature enables in-system programming that is usually executed through a flash player application that drives the MCU to execute the programming onto the flash device.
The PLD ISP feature allows the test developer engineer to specify a configuration bitstream file in VCL digital test file, much like programming a Flash memory device. The PLD ISP feature supports multiple PLD configuration data formats are supported including. Serial Vector Format (SVF), Standard Test And Programming Language (STAPL), Jam, Jam Byte Code (JBC) object files.
The Basic Diagnostics levels is the main troubleshooting tool used by all users to check the hardware configuration, and verify and isolate hardware failures. Some Diagnostic tests require that a Pin Verification Fixture be installed on the system.
Software Update for test development is a service that allows the user to get the latest software revisions for their Keysight In-circuit Test Systems.
Software Update for testhead is a service that allows the user to get the latest software revisions for their Keysight In-circuit Test Systems.
The Silicon Nails test development tool also allows users to define the vectors that they would like to execute on the non-compliant boundary scan device. The test development tool will generate the boundary scan test to output or input at the relevant interconnecting pin, thus generating the test consistently.
바운드리 스캔은 인쇄 회로 기판에서의 상호연결 테스트 방법입니다. 키사이트의 Interconnect Plus Boundary Scan 기능은 테스트 대상 보드에서 이 기초적인 테스트 방법을 개발하고 실행하는 데 필요한 모든 도구를 제공합니다.
키사이트의 Interconnect Plus Boundary Scan 1149.6 기능은 테스트 대상 보드에서 이 테스트 방법을 개발하고 실행하는 데 필요한 모든 도구를 제공합니다. 1149.1 표준과 달리 1149.6 표준은 디바이스의 고속 작동에 필요한 AC 커플링 신호 또는 차동 네트를 사용해서 설계된 바운드리 스캔 디바이스에 대한 테스트 방법을 정의합니다.
키사이트의 실리콘 네일 기능은 인쇄 회로 기판에서 경계 스캔 규격 디바이스와 연결된 비규격 경계 스캔 디바이스에서 테스트를 개발하고 실행하는 데 필요한 모든 도구를 지원합니다.
고급 스루풋 승수 기능을 사용하면 4모듈 테스터에서 최대 1000~2000 노드(1296~2592 노드) 회로를 두 개까지 동시에 테스트할 수 있어 테스트 시간이 절반으로 줄어듭니다.
CET(Cover-Extend Technology)는 VTEP 또는 nanoVTEP 및 CET 신호 컨디셔너 카드 하드웨어를 사용하여 비경계 스캔 디바이스에서 경계 스캔 액세스 제한 솔루션을 확장합니다.
DriveThru 기능을 지원하는 테스트 개발 소프트웨어는 저항기와 디바이스 사이에 할당된 테스트 지점이 없을 경우 집적 회로나 커넥터를 테스트할 수 있습니다.
Flash ISP 기능을 활용하면 시스템 내 프로그래밍이 가능하며, 일반적으로 이러한 작업은 플래시 디바이스에 대한 프로그래밍 실행을 위해 MCU를 구동하는 플래시 플레이어 어플리케이션을 통해 진행됩니다.
PLD ISP 기능을 활용하면 테스트 개발자 엔지니어가 플래시 메모리 디바이스를 프로그래밍하는 것처럼 VCL 디지털 테스트 파일 형식의 구성 비트스트림 파일을 지정할 수 있습니다. PLD ISP 기능은 다음을 포함해 여러 PLD 구성 데이터 형식을 지원합니다. 시리얼 벡터 형식(SVF), 표준 테스트 및 프로그래밍 언어(STAPL), 잼, 잼 바이트 코드(JBC) 개체 파일.
기본 진단 레벨은 모든 사용자들이 하드웨어 구성을 확인하고 하드웨어 결함을 검증하고 격리할 때 사용하는 기본 문제 해결 도구입니다. 일부 진단 테스트의 경우 시스템에 핀 검증 픽스처가 설치되어 있어야 합니다.
실리콘 네일 테스트 개발 도구를 사용하는 사용자는 비규격 바운드리 스캔 디바이스에서 실행하려는 벡터를 정의할 수도 있습니다. 테스트 개발 도구는 상호연결된 관련 핀에서 출력 또는 입력에 대한 바운드리 스캔 테스트를 생성하여 테스트 일관성을 보장합니다.
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