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N19306B PAM-4 analysis
PLTS N19306B extends the N19301B base product to perform PAM4 eye diagram analysis beyond the default NRZ eye diagram analysis in the base N19301B.
주요 특징
- 맞춤형 테스트 주기 생산성을 높여주는 새로운 표준 테스트 마법사
- 더욱 정확한 TDR 파형을 위한 채널 손실 보정
- 최신 벡터 네트워크 분석기를 위한 하드웨어 지원
새로운 물리 계층 테스트 시스템(PLTS) 2023은 신호 무결성 측정 및 케이블, 백플레인, PCB, 커넥터와 같은 고속 상호연결에 대한 데이터 포스트 프로세싱의 업계 표준입니다. 전 세계 다수의 신호 무결성 실험실이 R&D 프로토타입 테스트 단계에서 PLTS의 강력한 기능을 유용하게 사용했습니다. 이제 PLTS 2023은 강력한 64비트 어플리케이션으로 마이그레이션하여 높은 포트 수 S 매개변수 측정을 지원합니다. 오늘날의 800G 인터넷 인프라는 비트 오류를 초래할 수 있는 크로스토크 문제를 완화하기 위해 다중 포트 채널 분석을 요구하며 새로운 64비트 PLTS 어플리케이션을 통해 16포트 및 32포트 S-파라미터 측정값의 대규모 데이터 파일을 위한 보다 깊이 있는 메모리를 확보할 수 있습니다.
PLTS N19306B는 N19301B 기본 제품을 확장하여 기본 제품에 PAM4 눈 다이어그램을 추가합니다.
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N19306B PLTS PAM4 Eye Diagram
- PLTS N19306B extends the N19301B base product to perform PAM4 eye diagram analysis beyond the default NRZ eye diagram analysis in the base N19301B
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