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E9905EL 2-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i307x 시리즈 5

제품상태

단종됨 / 현재 지원되지 않음

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E9905G 2-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i327x 시리즈 6

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리소스

HIGHLIGHTS

최대 노드 수: 2592개
최대 채널 수 : 576개
풋프린트 : 0.93m (H) x 0.95m (W) x 0.77 (D)
최대 모듈 수 : 2개

E9905EL i307x 시리즈 5는 보다 슬림한 디자인에서 축소된 크기의 테스트헤드에서 ICT(In-Circuit Test)가 필요한 대부분의 주류 전자장치 제조업체들의 니즈를 충족할 수 있도록 설계되었습니다. 이 시스템에는 이전 제품인 E9905D i307x 시스템과 동일한 GUI가 포함되어 있습니다. 또한, 10년 전 최초의 시리즈 1 3070 테스트 시스템이 출시된 이후로 오늘날 컴포넌트에 필요한 저전압 테스트 기능을 포함시켜 TRS(Transportability, Reliability and Stability)를 유지하고 있습니다.

모든 i3070 시리즈 5 테스트 시스템은 유연성을 향상시키고 외부 전자장치 또는 계측기를 제어 및 연결할 수 있는 새로운 인프라를 포함하고 있어, 마치 시스템에 통합된 것처럼 외부 전자장치를 테스트헤드에 연결할 수 있습니다. 외부 전자장치는 ICT에서 추가적인 기능 테스트 커버리지를 제공하거나, 테스트 커버리지 향상을 위해 테스트 중에 장치에 추가 자극을 제공할 수 있는 기능 테스트 회로의 역할을 할 수 있습니다. 외부 전자장치, 테스트 시퀀스 및 테스트 결과에 대한 제어는 여전히 사용자에게 친숙한 테스트헤드 PC 컨트롤러가 실행하는 BT-BASIC 테스트 플랜을 통해 이루어집니다.

오늘날 PCBA는 향상된 기능을 뒷받침하기 위해 고전류를 요구하고 있습니다. 이제는 검사자를 통해 테스트 중인 장치에 10A를 공급하는 것이 가능해졌습니다. 또한 전원 공급기 포트를 멀티플렉싱하여 하나의 전원 공급기가 하나의 패널에서 최대 6개의 보드를 지원하도록 할 수 있습니다. 각각의 전력 채널이 릴레이를 통해 제어되기 때문에 테스트 중인 장치를 보호할 수 있습니다.

i3070 시리즈 5 테스트 시스템에는 아날로그 테스트 속도를 20% 높여 테스트 중인 장치의 처리율을 개선할 수 있도록 새로운 ASRU(Analog Stimulus and Measurement Unit)를 포함하고 있습니다.

이전의 테스트 시스템 개정판에서 제공된 제한적인 액세스 테스트 도구들을 여기에서 다운로드할 수 있습니다.

향상된 테스트 커버리지에서 보다 신속하게 테스트하고 싶은 대형 보드가 있다면 E9903E i307x 시리즈 5 시스템이 적합합니다.

자세한 정보는 i3070 시리즈 5에서 확인하십시오.

모든 Medalist i3070 테스트 시스템은 Mux 핀 카드와 UnMux 핀 카드를 모두 포함함으로써 이 시스템을 사용하는 데 있어 유연성을 높일 수 있습니다.

기능	아날로그 추가 (Mux)	액세스 추가 (Mux)	하이브리드 추가 (Mux)	하이브리드 144 (Unmux)
카드당 테스트 노드	144	고주파수10:28 계측기 포트 8개 GP 릴레이 24개	144	144
카드당 디지털 채널	해당 없음	해당 없음	16	144
최대 패턴 속도/주파수	해당 없음	HF: 100MHz 계측기 포트: 25MHz GP 릴레이: 해당 없음	6/12/20 MPS	6 MPS
모듈/시스템당 최대 카드**	9/18	9/18	9/18	9/18
아날로그 전압 범위	0-100V	0-100V	0-100V	0-100V
디지털 드라이브/수신 범위	해당 없음	해당 없음	-3.5 to 5.0V	0 to 4.75V
에지 배치 정확도	해당 없음	해당 없음	+/- 10 nS	+/- 10 nS

** 총 핀 카드는 모듈 당 9개를 초과할 수 없음

자세한 내용은 i3070 특징 및 장점 참고

자세한 정보를 원하시면 추가적인 제품 정보를 요청하십시오.

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