검색 결과 페이지입니다. . 추천 검색 결과 보기:

인라인 고밀도 ICT 시스템; Series 7i

E9988GL Keysight i3070 시리즈 7i 인라인 고밀도 회로 내 테스트(ICT) 시스템은 자동화 생산 라인에 ICT 기술을 도입합니다.

제품 이미지

  • Fixture actuation

    Press down

  • Maximum node count

    5760

  • System width

    800 mm

  • Maximum parallel testing

    2

sortDropdown icon View Data Sheet

견적 준비 완료

포함된 내용과 키사이트의 사용 가능한 업그레이드 옵션을 확인하십시오.

하이라이트

키사이트 i3070 Series 7i 인라인 테스트 시스템 소개 — 탁월한 테스트 커버리지와 향상된 처리량을 위한 길.

최신 쿼드 밀도 핀 카드를 특징으로 하는 Series 7i는 슬림한 800mm 너비의 설치 공간을 유지하면서 최대 5760개의 테스트 노드를 수용할 수 있습니다. 이러한 증가된 용량은 복잡한 테스트 요구 사항을 위한 더 많은 리소스를 제공하며, 보드 처리 및 전송 시간을 절약하면서 더 큰 패널을 처리할 수 있도록 합니다.

Series 7i는 현재 E9988E 및 E9988EL 테스트 프로그램 및 픽스처와의 완벽한 하위 호환성을 보장하므로 투자가 안전하다는 것을 알고 안심하십시오.

  • 테스트 노드 두 배 증가: 컴팩트한 설치 공간을 유지하면서 최대 2배 더 많은 테스트 노드를 수용합니다.
  • 슈퍼커패시터 테스트 통합: 사용 가능한 통합 솔루션을 통해 최대 100패럿(F)의 슈퍼커패시터를 손쉽게 테스트합니다.
  • 저전류 측정 지원: 최저 100나노암페어(nA)까지 측정을 달성하여 개발 시간을 단축합니다.
  • 단락 테스트 가속화: 향상된 단락 테스트 알고리즘을 기존 방식보다 50% 더 빠르게 실행합니다.
  • 커버리지 향상: 자동 클러스터 테스트 생성을 통해 커버리지를 향상시킵니다.
  • 확장 용이성: 테스트 기능을 확장하기 위한 내장형 기능 포트를 제공합니다.
  • 액세스 제한 극복: x1149 바운더리 스캔 분석기를 통합하여 제한된 테스트 액세스를 극복합니다.

키사이트의 ICT 시스템에 대한 자세한 정보는 www.keysight.com/find/ict를 방문하십시오.

서비스 및 지원