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고정밀 전자기 프로브

사이드 채널 분석에 사용되는 고정밀 프로브인 DS1203B 고정밀 전자기파 프로브는 반도체 회로에서 발생하는 전자기파 방출을 포착합니다.

제품 이미지

  • 대역폭

    Up to 6 GHz

  • Technology

    Device Security

  • Connector type

    BNC / SMB

  • Product type

    High precision electromagnetic probe

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하이라이트

사이드 채널 분석에 사용되는 고감도 프로브인 고정밀 전자기 프로브는 반도체 회로에서 발생하는 전자기 방출을 포착합니다. 이 프로브에는 0.2mm, 0.5mm, 1.25mm의 세 가지 크기가 다른 프로브 팁을 교체할 수 있는 메커니즘이 있습니다. 모든 팁에는 지향성 코일과 보호용 테플론 쉘이 있습니다. 일반적으로 XYZ-모션 플랫폼과 함께 사용되는 이 프로브는 최대 6GHz 주파수의 전자기장을 포착하여 AC 신호로 변환할 수 있습니다.

DS1203B는 타겟의 표면을 이동하며 활성도가 높은 회로인 핫스팟을 찾을 수 있습니다. 핫스팟에서 포착된 신호는 단순 또는 차등 전자기파 분석을 위한 측정을 구성합니다. 고정밀 전자기파 프로브에는 수동으로 또는 외부 장치를 통해 설정할 수 있는 가변 이득 메커니즘이 있으며 타겟의 특성에 따라 달라질 수 있습니다.

새롭고 향상된 증폭기 유닛 탑재 

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