온디맨드
결함 주입(FI)은 보안 장치, 마이크로컨트롤러 및 임베디드 시스템의 복원력을 평가하는 데 있어 핵심적인 기법으로 자리 잡았습니다. 하지만 결함 주입이란 정확히 무엇이며, 보안 엔지니어들은 이를 실제로 어떻게 적용하기 시작할 수 있을까요?
이번 입문 웨비나에서는 당사의 전문가들이 다양한 유형의 오류, 일반적인 공격 목표, 그리고 현대적인 디바이스 보안 평가에서 오류 주입(FI)이 수행하는 역할 등 오류 주입 보안 테스트의 기초를 설명해 드릴 것입니다. 이어 키사이트(Keysight) 오류 주입 설비의 실시간 시연을 통해, 하드웨어와 소프트웨어가 어떻게 연동되어 임베디드 디바이스의 보안 취약점을 식별하는지 보여드리겠습니다.
기기 보안을 처음 접하시는 분이든, 조직을 위한 보안 테스트 솔루션을 검토 중이신 분이든, 이 세션에서는 결함 주입과 효과적인 평가를 수행하는 데 사용되는 도구에 대한 실용적인 소개를 제공해 드립니다.
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