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결함 주입(FI)은 보안 디바이스, 마이크로컨트롤러 및 임베디드 시스템의 회복탄력성을 평가하기 위한 핵심 기법으로 자리 잡았습니다. 그렇다면 결함 주입이란 정확히 무엇이며, 보안 엔지니어는 이를 어떻게 실무에 적용할 수 있을까요?
본 입문 웨비나에서는 다양한 유형의 결함, 일반적인 공격 목표, 그리고 현대적인 디바이스 보안 평가에서 결함 주입(FI)이 수행하는 역할을 포함하여 결함 주입 보안 테스트의 기초에 대해 설명합니다. 그런 다음 키사이트 결함 주입 설정의 라이브 데모를 통해 하드웨어와 소프트웨어가 어떻게 상호 작용하여 임베디드 디바이스의 보안 취약점을 식별하는지 보여드립니다.
디바이스 보안을 처음 접하시거나 조직을 위한 보안 테스트 솔루션을 평가 중이신 경우, 이번 세션은 결함 주입과 효과적인 평가 수행에 사용되는 도구에 대한 실용적인 입문을 제공해 드릴 것입니다.
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