어플리케이션 노트
파형 발생기의 메모리 깊이에 대해서는 그리 많은 시간을 고민하지 않기도 합니다. 그러나 오늘날 설계에서는 현재의 발생기 메모리 깊이를 뛰어 넘는 복잡한 파형이 요구되고 있습니다. Trueform 파형 발생기는 동급 최장의 파형 메모리 깊이를 제공합니다.
본 테스트 과제들을 참조하여 Trueform 파형 발생기가 어떻게 필요한 메모리 깊이를 제공하여 길고 복잡한 파형을 발생시키는지 살펴보시기 바랍니다.
길고 반복되지 않는 신호
발생기를 통한 길고 반복되지 않는 맞춤 신호 생성을 하기 위해서 향상된 파형 메모리가 필요합니다. 이러한 신호들은 아주 복잡하지는 않으나 비 반복적 속성 상 많은 수의 샘플들이 필요합니다. 기존의 일부 벤치 DDS(Direct Digital Synthesizer) 발생기는 128 KSa의 파형 메모리만을 제공합니다. 반면, 33600A 시리즈 Trueform 파형 발생기는 파형당 4 MSa를 제공하며 최대 64 MSa의 파형 메모리로 업그레이드할 수 있는 옵션도 제공합니다. 따라서 Trueform 파형발생기에서는 신호의 길이가 기존의 DSS발생기보다 500배나 길 수 있습니다.
시리얼 디지털 프로토콜 시뮬레이션
USB 데이터의 전송과 같이 비트 수가 많은 복잡한 디지털 데이터 신호를 시뮬레이션하다 보면 딥 파형 메모리의 필요성을 쉽게 이해할 수 있습니다. 신호의 각 비트는 발생기의 파형 메모리에 1개 이상의 샘플로 표현됩니다. 신호의 데이터가 많을수록 보다 많은 파형 메모리가 필요합니다. Trueform 파형 발생기는 뛰어난 딥 메모리가 옵션으로 제공되기 때문에 길이에 따라 신호 품질이 저하되는 현상없이 신호를 완벽하게 재현할 수 있습니다. 뿐만 아니라 사이클 간 지터가1 ps 미만이기 때문에 신호 타이밍시 무결성을 유지할 수 있습니다.
많은 시간 분해능이 필요한 단순한 신호
파형이 긴 신호가 유용한 또 다른 경우로는 뛰어난 시간 분해능이 필요한 경우를 들 수 있습니다. 사각파처럼 단순한 신호의 경우에도 장치의 테스트를 위해서는 1 ns의 분해능을 요구하는 대단히 짧은 순간 전압 강하가 필요할 수 있습니다. 33600A 시리즈 Trueform 파형발생기는 1 GSa/s의임의파형을생성할수 있는 능력을 갖추고 있습니다. 뿐만 아니라 특허의 샘플링 기술을 통하여 기존 DDS 기반 발생기의 최대 약점이었던 파형에서의 포인트 추가 또는 건너뛰기 문제를 해결함으로써 전압 강하가 재현되도록 보장합니다.
eye 패턴 자극 생성
무선 데이터 전송을 위해서는 신호가 디지털 변조된 반송파를 시뮬레이션 해야 합니다. 디지털 신호는 일부 연결 프로토콜에서 비트수가 많은 데이터가 필요하기 때문에 향상된 메모리가 필요하고, 많은 수의 메모리 샘플을 가져와서 OTA(OverThe-Air) 신호에서 각 데이터 비트를 시뮬레이션해야 합니다. Trueform 파형 발생기는14비트 진폭 분해능, 딥 메모리, 탁월한 신호 무결성을 갖추어 이러한 시나리오에 적합하며, EVM(Error Vector Magnitude)이 매우 낮은 OTA 신호를 재현할 수 있습니다.
탁월한 딥 메모리
하드 드라이브든 스마트폰이든 메모리를 향상시키면 이점을 경험할 수 있습니다. 파형 발생기의 경우도 마찬가지입니다. 파형 메모리를 향상시키면 길이가 긴 신호를 재생성하고 신호의 시간 분해능을 보다 강력하게 제어할 수 있습니다.
신호의 시간 분해능이 1 ns일 경우 딥메모리의 사용이 시간 분해능에 미치는 영향을 살펴 보면, 이 정도 수준의 분해능을 위해서는 1 GSa/ sec의 샘플링 속도가 필요합니다. 발생기가 128 KSa의 파형 메모리만 사용하는 경우에는 신호의 길이가 128 µs로 제한됩니다. 이와 달리 33600A 시리즈 Trueform 파형 생성기에서 64 MSa 파형 메모리가 사용되기 때문에 신호의 길이가 500배나 길어져 64 ms에 달합니다. 신호가 길어질수록 DUT(Device-Under-Test)가 신호 수준을 검출하기에 충분한 셋업 및 홀드 시간을 가질 수 있습니다.
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