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データセンターのトランシーバーのテスト
トランシーバーのイノベーションを促進し、テストコストを削減
データセンターでの100GEから400GEへのシームレスな移行を実現するには、次世代トランシーバーの導入が効果的ですが、チャネル容量の増加、品質と相互運用性の保証、テストの時間とコストの削減などの課題があります。高度な変調とコード化、確実な特性評価とコンプライアンステスト、テスト効率の改善がこれらの課題を解決します。
データセンターの400GE化は目前に迫っています。キーサイトは、お客様の実装上の課題を解決し、迅速な移行のためのお手伝いをします。
課題 1: チャンネル容量の増加
データセンターの100GEから400GEへの移行では、これまでの常識が通用しなくなります。光トランシーバーは、高度な信号変調とコード化を使用することで、400GEの速度を達成しています。このような技術のために、トランシーバーのメーカーにとっては新しいテストの課題が生じます。高度な変調とコード化の技術を採用した400GEデータセンター実装の課題の解決は、キーサイトがお手伝いします。
課題 2: 品質と相互運用性の保証
データ・センター・ネットワークでは、100GEと400GEの両方のサポートが必要とされます。トランシーバーの問題によってネットワークのダウンタイムが生じることは許されません。新しい技術を採用したトランシーバーをネットワークに追加する前には、業界仕様に基づく徹底したテストを行って、シームレスな互換性を確認する必要があります。
ネットワークが高速で複雑になるほど、特性評価とコンプライアンステストもますます難しく、時間を要するものになります。キーサイトは、光コンポーネントやトランシーバーのメーカーと協力して、それらのデザインが最新の業界仕様に厳密に適合することを検証しています。データセンターでは100GEと400GEのサポートが共存するため、異なるメーカーのトランシーバーの間の相互運用性に加えて、他のネットワークコンポーネントとの相互運用性も重要です。
課題 3: テスト時間の短縮とコストの削減
光トランシーバーのコストは、データセンターの100GEから400GEへの移行コストの主要な部分を占めます。これらのトランシーバーの広範囲のデータレートのテストを効率化することで、デザインのイノベーションを促進し、コストを削減できます。トランシーバーのコストは、デザインの複雑さと、光コンポーネントの数に比例します。テスト時間も無視できない要素であり、トランシーバーの全コストに影響します。
次世代トランシーバーのテストを効率化することで、ポート当たりのコストを削減し、消費電力と占有面積を節約できます。このプロセスは、研究開発段階でのトランシーバーコンポーネントのデザインに始まり、トランシーバーのデザインと検証を経て、製造テストまで続きます。キーサイトは、お客様のトランシーバーテストの効率改善をお手伝いします。
次のテスト課題 - トラフィック負荷
データ・センター・クラウド・サービス、4K動画、および5Gモバイル・ネットワーク・サービスの高速化に伴い、多くのネットワークプロバイダーが28 Gb/s(NRZ)シグナリングから、400GEへの足がかりとして、50GE、100GE、200GEの速度を実装するより高速の56 Gb/s(PAM4)電気的インタフェースへ移行しています。
イクシアのK400 QSFP-DDロードモジュールのみが、400GEポート・ファンアウト・ケーブルを使って、400GE、200GE、100GE、50GEの複数の速度または単一速度の機器を将来を見据えて試験できるプラットフォームを提供し、これらのテクノロジーを検証できます。
PathWaveによる開発ワークフローの効率化
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