何をお探しですか？
低損失誘電材料測定の定番ソリューション 1GHz～10GHz
－ Tanδ 0.01以下の 低損失誘電材料の評価に最適
－ 棒状の試料を上部の挿入孔に 入れるだけ。細かい操作や調整は一切不要！
－ 誘電率測定ソフトによる 効率的で確実な測定
－ 堅牢なハードウェアが長年にわたり 再現性の高い測定を提供
空洞共振器摂動法を用いた使いやすく再現性の高いソリューション
関東電子応用開発が日本で初めて販売を開始して以来四半世紀以上にわたり多く の企業や研究機関で幅広くご利用いただき改善を重ねてきた非常に信頼性の高い ソリューションです。共振器自身の極めて高いQ値（ 10,000以上、代表値）により、 tanδ0.01以下の低損失材料の正確な評価を可能にします。優れた基本設計と、高い 加工精度をはじめとする徹底的な製造工程管理により、優れたハードウェア性能を実現 しています。
さらに、測定手順がシンプルなので、効率よく再現性の高い測定が可能です。基本的 に、共振器上部の試料挿入孔から、棒状に加工した試料を入れるだけです。試料の位 置決めなどの必要がないため、作業者による測定値のバラツキが極めて小さくなりま す。また、測定用ソフトウェアのステップバイステップの説明にしたがって作業すること で、初めて使う方でも確実に正しい測定結果を得ることができます。
技術ハイライト
共振器摂動法による正確な誘電率測定
共振器摂動法では、共振器の電界最大部 分に誘電体試料を入れることによる共振 状態の変化から複素比誘電率を測定しま す。周波数の変化から誘電率が、Q値の 変化から誘電損が求まります。共振器自 体のQ値が非常に高いので（10,000以 上、代表値）、低損失試料の挿入によるわ ずかな損失変化も、大きなQ値の変化を もたらすため、正確な測定が可能です。
独自の試料挿入孔が簡単で正確な測定を可能に
共振器にサンプル挿入用の孔を開ける ことによる電界の乱れは、摂動法におけ る大きな課題です。サンプル挿入孔で導 波管を形成し適切なフィルタ特性を持た せることで、共振器から漏れる電磁波を 最小限に抑え正確な測定を実現していま す。また、漏れを防ぐためのシールドケー スなどの可動部分が無いので高い再現性 が得られます。
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