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PCB両面用プローブステーションシステム
独自開発によるユニークなメカ機構により高密度プリント配線基板の両面へ位置決め！
高精細な高周波プローブを両面同時にプロービングすることが可能！
本製品の特長
- プリント配線基板の両面へ高精度な位置決めによる高周波測定が可能です。
プローブ角度はAET独自の可動回転式プローブ取付機構の採用により、プローブ先端の位置を変えずに角度を調整することができます。(|Z| Probe standard case) - 測定対象物は基板だけではなく、ICソケットや小型モジュール、コネクタ等へダイレクトなプロｰビングを行うことが可能です。これにより測定用治具の伝送路のDeembeddingが不要で測定対象物の高精度な測定が可能です。
- プローブ移動が自在に！ツマミを動かすとY軸ステージがスライド。ポジショナーを取り外すことなく、裏側・表裏測定の時にプローブを反転させる機構を搭載しています。
- CAL用基板回転機構
プローブ表裏校正のためのCAL基板取り付けプレートが180度表裏回転する機構が備わっています。またカスタムにより両面スルーが行える両面校正基板の提供も行います。 - サイズの大きな基板の取り付けに対応しています。
表－表測定の場合、最大446mm×200mmの基板を固定できます。但し有効測定サイズは200mm×100mmとなります。 - PCB両面用プローブステーションのシステム構成品は、ユーザー仕様に合わせた、自由な組み合わせによるカスタマイズが可能です。
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