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厚み方向誘電率測定の決定版 900MHz～15GHz用測定システム
厚み方向の測定が可能で導体パターンも不要 ― プリント基板（PCB）測定に最適なソリューション
《IPC、ASTM規格準拠》
周波数が900MHzから15GHzにおいてεr’が概ね1 から20で誘電体損失の比較的小さいシート材料のεr’およびtanδを測定する測定器･システムです。
IPC-TM-650 2. 5. 5. 5. 1 Stripline Test for Complex Relative Permittivity of Circuit Board Materials to 14GHz およびASTMD3380 Standard Method of Test for Permittivity （Dielectric Constant） and Dissipation Factor of Plastic-Based Microwave Circuit Substratesに準拠し、誘電体シートのεr’、tanδが測定できる測定キットです。
なお、本測定法については、2008 年度IEEE I2MTCで発表しました。
準拠規格
IPC-TM-650、ASTM 3380
論文・出版
Suzuki, H. ; Hotchi, T. ; Nojima, T.
"A New Measurement System for the Perpendicular Complex Permittivity to DUT Sheet by Stripline Simulation"
Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on (Volume:61, Issue: 9 )
pp2476 - 2482 Date of Publication: Sept. 2012
サンプル例
- プリント基板（プリプレグ）
- 平面アンテナ
- フィルム
関連リンク
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