校正によるミリ波の課題の克服 | キーサイト
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ミリ波周波数であれ、より長い波長であれ、測定の不確かさの最大の原因を取り除くという校正の目的は同じです。しかし現実には、目的は同じでも、実際の校正プロセスは全く異なります。
ミリ波デバイスのテスト時には、30～300GHzの周波数に固有の校正の課題に注意する必要があります。
どんなに優れたハードウェアであっても、デバイスのテスト中に発生するすべての潜在的な誤差を除去することはできません。どのテストハードウェアにも、元来の不正確さはある程度あります。また、ミリ波周波数では波長が短くなるため、測定面が多少変化するだけでも、測定の誤差源が増大します。すなわち、わずか数ミリメートルのシフトが、大きな位相シフトにつながる可能性があります。このようにマージンが小さいため、適切な校正によってこれらの誤差を最小限に抑えることの重要性がさらに増します。
一般的に行われているのが、標準的なネットワーク・アナライザ校正や測定のベクトル誤差補正です。この作業は、しばしば、測定確度を最大化する（そのためにネットワーク・アナライザの元来の不正確さを最小限に抑える）際のルーチン業務となっています。ただし、ミリ波周波数の場合、こうした高周波数バンドにおいて正確で再現性のある測定を行うために不可欠な、校正に関する特別な注意事項があります。では、ミリ波周波数レンジで作業するには、どのような変更が必要でしょうか。測定値の信頼性を可能な限り高め、コストのかかるテストエラーを回避するにはどうすればよいでしょうか。