マルチレーンBERTテスト用のスイッチングソリューション | キーサイト
アプリケーションノート
はじめに
システムのスループット要件を満たすために、多くの高速デジタルインタフェースで複数のレーンが用いられています。このため、シングルエンドと差動の両方のテスト、使用可能なBERT（ビット・エラー・レート・テスター）チャネル数より多いライン数など、接続要件に起因した検証や特性評価で問題が生じています。キーサイトのスイッチングソリューションは、お求めやすい価格で信頼性が高く、これらの問題を解決できます。
このアプリケーションノートでは、スイッチングソリューションの使用方法、発生する可能性のある問題とその対処方法を紹介します。このアプリケーションノートでは、光トランシーバーのテストに重点を置いて説明します。4レーン光トランシーバーをBERTを使用してテストするには、テストポート数に限りがあるため、各レーンを交互に接続する必要があります。図1に、BERTを使用して光トランシーバーをテストするための代表的なセットアップを示します。4つのレーンを同時にテストするためには、複数の光源やディテクターを購入しなければなりませんが、それではコストパフォーマンスが悪くなります。
スイッチを追加することによってスイッチング回路を構築することができるので、再接続が不要になります。図2のセットアップを見れば、ケーブルやコネクタを物理的に接続し直さなくてもデータレーンをシームレスに切り替えことができるので、再接続に要する時間やテストコストの削減が可能であることがわかります。
図2のセットアップでは、スイッチが1つずつ経路に接続されています。実環境では、4つのレーンすべてに同時に電流が流れる可能性があります。このため、テストではレーン間のクロストークを考慮する必要があります。実環境のマルチレーン回路をシミュレートするために、光トランシーバーの入力端には、スイッチの代わりにパワースプリッターを用います。