スキャナシステムによる大量部品の効率的なインピーダンス測定 | キーサイト
アプリケーションノート
1. はじめに
今日、部品メーカーは厳しい競合市場に参加するために、より安価な信頼性の高い製品をより短い納期で提供で きる高い生産性と部品歩留りを実現する必要があります。このため、多くの部品メーカーでは、生産性の向上と 製品品質の管理のためにスキャナを用いたインピーダンステストを行っています。しかし、スキャナを用いた測 定は、通常のテストフィクスチャを使用する測定とは異なり、延長ケーブルやスキャナ内部に存在する残留イン ピーダンスによる測定誤差を最小に抑えるための工夫が必要になります。
このアプリケーションノートでは、LF帯のLCRメータおよびインピーダンス・アナライザとスキャナを使用した 測定システムの構成方法と、スキャナシステムを使用した場合に生じる可能性のある残留インピーダンスの問題 を解決する方法について説明します。さらに、電子部品の温度特性評価や絶縁抵抗測定を行う具体的なスキャナ システムの例についても紹介します。
2. スキャナシステムの設計
このセクションでは最初に、スキャナシステムを設計する際の重要ポイントを紹介し、次に、シス テム構成、注意点、問題点と解決策について説明します。