Comment tester les circuits imprimés automobiles en panneaux et non en panneaux

Système de test Expert
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Tests adaptatifs de circuits imprimés automobiles pour cartes en panneau et hors panneau

Les tests des cartes de circuits imprimés (CCI) destinées au secteur automobile nécessitent un système de test de fabrication capable de prendre en charge à la fois les cartes montées en panneau et celles qui ne le sont pas, au sein d'un environnement de test flexible et évolutif. La solution doit intégrer des architectures de test configurables, des interfaces de fixation adaptables et une capacité de test massivement parallèle afin de s'adapter efficacement aux différentes tailles de cartes, au nombre de nœuds et aux exigences de débit de production, tout en garantissant une couverture de test et une qualité de fabrication constantes.

Le processus de test consiste à configurer le système de test de manière à prendre en charge soit des tests massivement parallèles pour les cartes en panneaux à haut volume, soit des tests séquentiels pour les cartes non panélisées à haute complexité, tout en utilisant la même plateforme de test. L'allocation flexible des cœurs, l'instrumentation modulaire et les ressources de test configurables permettent aux fabricants d'optimiser le débit, de réduire l'encombrement du système et de simplifier les opérations de test, tout en prenant en charge les tests en circuit, la programmation de mémoire flash et l'intégration de tests fonctionnels au sein d'une solution de test de fabrication unifiée.

Solutions de test pour circuits imprimés automobiles, en panneaux et non en panneaux

Le test à grande échelle des circuits imprimés automobiles nécessite un système de test flexible et évolutif, capable de prendre en charge à la fois les cartes en panneau et les cartes non en panneau, quel que soit le niveau de complexité des tests. Le système de test de cartes en parallèle Keysight Expert i7090 permet d'effectuer, sur une seule et même plateforme, des tests massivement parallèles à haut débit pour les cartes en panneau, ainsi que des tests séquentiels sur un grand nombre de nœuds pour les cartes non en panneau complexes. Grâce à des architectures de test configurables et à la prise en charge d'instruments modulaires pour les tests en circuit, la programmation flash et l'intégration de tests fonctionnels, ce système de test de cartes en parallèle aide les fabricants à optimiser le débit, à réduire l'encombrement du système et les coûts d'exploitation, et à maintenir une couverture élevée des défauts dans les environnements de fabrication d'électronique automobile.

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