Wie man panelisierte und nicht-panelisierte Leiterplatten für die Automobilindustrie testet

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Adaptives Testen von Leiterplatten in der Automobilindustrie für panelisierte und nicht-panelisierte Platinen

Für die Prüfung von Leiterplatten in der Automobilindustrie wird ein Fertigungstestsystem benötigt, das sowohl panelisierte als auch nicht-panelisierte Leiterplatten in einer flexiblen und skalierbaren Testumgebung unterstützt. Die Lösung erfordert konfigurierbare Testarchitekturen, anpassbare Schnittstellen für Prüfvorrichtungen und massiv parallele Testfähigkeit, um unterschiedliche Leiterplattengrößen, Knotenanzahlen und Produktionsdurchsatzanforderungen effizient zu erfüllen und gleichzeitig eine gleichbleibende Testabdeckung und Fertigungsqualität zu gewährleisten.

Der Testprozess umfasst die Konfiguration des Testsystems für entweder massiv parallele Tests von Leiterplatten mit hohem Durchsatz oder sequentielle Tests von komplexen, nicht-panelisierten Leiterplatten auf derselben Testplattform. Flexible Kernzuordnung, modulare Instrumentierung und konfigurierbare Testressourcen ermöglichen es Herstellern, den Durchsatz zu optimieren, den Systembedarf zu reduzieren und die Testabläufe zu vereinfachen. Gleichzeitig werden In-Circuit-Tests, Flash-Programmierung und die Integration von Funktionstests in eine einheitliche Fertigungstestlösung unterstützt.

Testlösung für panelisierte und nicht-panelisierte Leiterplatten im Automobilbereich

Das Testen von Leiterplatten für die Automobilindustrie in großem Umfang erfordert ein flexibles und skalierbares Testsystem, das sowohl panelisierte als auch nicht-panelisierte Leiterplatten mit unterschiedlichen Testkomplexitäten unterstützt. Das Keysight-System Expert Das parallele Leiterplattentestsystem Q3000A i7090 ermöglicht massiv parallele Hochdurchsatztests für panelisierte Leiterplatten und sequentielle Tests mit hoher Knotenzahl für komplexe, nicht panelisierte Leiterplatten auf einer einzigen Plattform. Dank konfigurierbarer Testarchitekturen und modularer Instrumentierung für In-Circuit-Tests, Flash-Programmierung und die Integration funktionaler Tests unterstützt das System Hersteller dabei, den Durchsatz zu optimieren, den Platzbedarf und die Betriebskosten zu reduzieren und eine hohe Fehlerabdeckung in der Automobilelektronikfertigung zu gewährleisten.
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