Comment effectuer la programmation flash avec le système de test en circuit (ICT)

Testeur en circuit massivement parallèle et évolutif i7090
+ Testeur en circuit

Programmation de la mémoire flash à l'aide d'un testeur en circuit

L'exécution de la programmation flash avec un testeur en circuit (ICT) nécessite l'intégration de capacités de programmation en système (ISP) dans la plate-forme ICT. L'ISP permet de programmer des microcontrôleurs, des réseaux de portes programmables (FPGA) et d'autres dispositifs programmables directement sur le circuit imprimé assemblé, ce qui élimine le besoin de stations de programmation externes et réduit les étapes de manipulation. Pour permettre cette fonctionnalité, le système TIC doit être équipé du matériel et des logiciels nécessaires pour prendre en charge les protocoles ISP tels que le JTAG (Joint Test Action Group), l'interface périphérique série (SPI) ou le récepteur-transmetteur asynchrone universel (UART). Il s'agit notamment d'assurer un accès physique adéquat par le biais de sondes de test ou de broches de fixation, d'utiliser des algorithmes de programmation compatibles et d'établir des canaux de communication fiables pour le transfert de données et la configuration des dispositifs.

Une intégration réussie nécessite également une collaboration étroite entre les équipes de conception des circuits imprimés et d'ingénierie des tests. L'emplacement adéquat du plot de test et l'accès électrique doivent être planifiés pendant la phase de conception pour permettre aux TIC de s'interfacer efficacement avec les dispositifs cibles. Sans cette coordination précoce, l'ISP risque de ne pas être viable en production. En outre, des étapes de validation doivent être prévues pour confirmer l'intégrité de la programmation, comme les contrôles de stabilité des signaux, la surveillance de la tension et les vérifications post-programmation telles que les comparaisons de sommes de contrôle. Lorsqu'elle est correctement mise en œuvre, l'ISP au sein d'une installation TIC rationalise la fabrication en combinant les tests et la programmation en une seule étape efficace et consolidée.

Solution de programmation en système (ISP) pour les testeurs en circuit (ICT)

L'intégration de la programmation flash dans un système de test ICT requiert les interfaces matérielles et les outils logiciels nécessaires pour communiquer avec les dispositifs cibles. Les systèmes de test Keysight i7090 et i3070 Series 7i sont conçus pour prendre en charge cette intégration dans les environnements de test en circuit (ICT). Ces systèmes fournissent les interfaces matérielles, telles que l'accès au montage et le routage des signaux, ainsi que les outils logiciels nécessaires à une communication transparente avec les dispositifs programmables. Ils prennent en charge les protocoles de programmation standard, tels que JTAG et SPI, ce qui garantit la compatibilité avec une large gamme de microcontrôleurs, de FPGA et de mémoires flash. En outre, ils offrent des algorithmes de programmation fiables et des mécanismes de transfert de données robustes qui améliorent la vitesse et la stabilité du processus de programmation de la mémoire flash.

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