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IDIOMA
Soluciones de pruebas paramétricas Sistemas de pruebas a nivel de oblea para la validación paramétrica
Modelo: NX5730A
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Solución de prueba de memoria IV con pulsos de 1 ns y alto rendimiento
La solución de pruebas de memoria IV pulsada de alto rendimiento y 1 ns Keysight NX5730A está diseñada para realizar mediciones IV pulsadas de alta velocidad y mediciones de CC precisas.
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Maximum number of measurement pins
2
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Minimum current measurement resolution
1 pA
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Minimum voltage measurement resolution
N/A
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Additional features
N/A
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Destacados
- Caracterización precisa y rápida de nuevas memorias, como la memoria de acceso aleatorio magnetorresistiva por par de transferencia de espín (STT-MRAM), mediante pruebas de corriente-voltaje (IV) desde corriente continua hasta pulsos de alta velocidad en obleas de silicio
- Aplicar tensiones pulsadas precisas y de alta velocidad (con pulsos de hasta 1 ns) a la unión túnel magnética (MTJ) para STT-MRAM y medir con precisión la resistencia de la MTJ
- Realiza todas las pruebas típicas de caracterización de MTJ en una única solución de pruebas de memoria
- Prueba de ciclo entre 10 y 100 veces más rápida, como una prueba de tasa de error de bits (BERT)
- Captura y visualiza con claridad las formas de onda de conmutación de la unión MTJ durante el pulso de escritura
- Solución especializada para pruebas de memoria IV de 1 ns con la experiencia técnica de Keysight
Qué incluye:
- Armario de sistema
- Unidad controladora PIV
- Unidad receptora PIV
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Obtenga suscripciones predecibles basadas en arrendamiento y soluciones completas de gestión del ciclo de vida, para que pueda alcanzar sus objetivos empresariales más rápidamente.
Disfrute de un servicio superior como suscriptor de KeysightCare y obtenga una respuesta técnica comprometida y mucho más.
Asegúrese de que su sistema de pruebas funcione según las especificaciones y cumpla con las normas locales y globales.
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