In-Line Vier-Modul In-Circuit-Testsystem, i367x Serie 5i

Das E9988E Keysight Medalist i3070 Series 5i Inline In-Circuit Test (ICT) System bringt ICT-Technologien in Ihre automatisierte Fertigungslinie.

Produktbild
  • Fixture actuation

    Press down

  • Maximum node count

    5184

  • System width

    1800 mm

  • Maximum parallel testing

    4

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Highlights

  • Die Kurzdraht-Befestigungstechnik gewährleistet Transportierbarkeit, Wiederholgenauigkeit und Stabilität.
  • Kann auch große Platinenformate bis zu 28 x 24 Zoll verarbeiten.
  • Das innovative Design gewährleistet einfache Wartung und problemlosen Austausch der Armaturen.
  • Ein einziger Ansprechpartner für Ihre automatisierte In-Circuit-Test-Lösung (ICT).
  • Umfassende, im System integrierte Suite von Boundary-Scan-Tools
  • Komplettes Angebot an preisgekrönten Keysight ICT-Lösungen

Die i3070 Series 5i Inline ICT behält die beliebte und patentierte Keysight-Kurzdraht-Befestigungstechnologie bei, die auch in den Keysight 3070- und i3070-Systemen verwendet wird.

Die Kurzdraht-Testtechnologie beseitigt Probleme, die bei Langdraht-Tests häufig auftreten, wie Rauschen und eine verminderte Teststabilität. Dies ermöglicht transportable, wiederholbare und stabile Tests mit Ihrem i3070 Series 5i, selbst wenn Sie Tests am anderen Ende der Welt oder an verschiedenen Produktionsstandorten durchführen müssen.

Das Inline-ICT-System der i3070-Serie 5i bietet dem vielbeschäftigten Anlagenbediener und Prüftechniker hohen Bedienkomfort. Alle Instrumente sind zur einfachen Wartung von vorne zugänglich.

Eine Reihe von Werkzeugen, darunter intelligente Vorrichtungsidentifizierung, Platinenorientierungserkennung und Testplan-Revisionskontrollen, steht Ihnen zur Verfügung, um Automatisierungslösungen für das Testen der heutigen komplexen Leiterplattenbaugruppen zu entwickeln.

Die i3070 Series 5i ist vollständig abwärtskompatibel mit 3070- und i3070-Testprogrammen.

Weitere Informationen zu ICT-Systemen finden Sie unter ICT System - i3070 .