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In diesem Kurs wird die Verwendung der Wellenformanalyse zur Analyse von IoT-Geräten erörtert und ausführlich erläutert.
Lernen:
Lektion 1 - Die wichtigsten Herausforderungen, die die Zuverlässigkeit von IoT-Produkten beeinflussen
Erörtert die drei wichtigsten Herausforderungen, die sich auf die Zuverlässigkeit von IoT-Produkten auswirken: die zunehmende Komplexität von IoT-Geräten, die steigende Anzahl von IoT-Geräten und die rauen Umgebungen, in denen IoT-Geräte häufig eingesetzt werden.
Lektion 2 - Keysight-Lösungen - CX3300A und Analyse anomaler Wellenformen
Stellt den Keysight CX3300A Device Current Waveform Analyzer und die Anomalous Waveform Analytics Software vor. Mit diesen Tools können große Datensätze von Stromwellenformen analysiert werden, um anomale Wellenformen zu identifizieren, die auf einen Hardwarefehler hindeuten können.
Lektion 3 - Effiziente Analyse von großen Datensätzen
Erörtert die Herausforderungen bei der Analyse großer Datensätze mit Stromwellenformen. Die Software Anomalous Waveform Analytics kann zur effizienten Analyse dieser Datensätze verwendet werden, indem anomale Wellenformen identifiziert und dann die weitere Analyse auf diese Wellenformen konzentriert wird.
Lektion 4 - Demo: Anomale Wellenformanalyse
Bietet eine Demonstration der Anomalous Waveform Analytics Software, um zu zeigen, wie die Software verwendet werden kann, um einen Datensatz von aktuellen Wellenformen zu analysieren und anomale Wellenformen zu identifizieren.
Lektion 5 - Anwendungsbeispiele für die Analyse anomaler Wellenformen und Zusammenfassung
Bietet einige Anwendungsbeispiele für die Anomalous Waveform Analytics Software, um zu zeigen, wie die Software verwendet werden kann, um anomale Wellenformen in einer Vielzahl von IoT-Geräten zu identifizieren.
Hardware
CX3324A Gerätestrom-Wellenform-Analysator, 1 GSa/s, 14/16 Bit, 4 Kanäle
Der CX3324A ist ein 4-Kanal-Mainframe mit einer bis zu 16 Bit breiten Auflösung. Die Speichertiefe und die Bandbreite sind auf bis zu 256 MSa/s bzw. 200 MHz aufrüstbar.
Testen von Halbleiter-Leistungsmodulen mit breiter Bandlücke
Charakterisierung von WBG-Halbleiterleistungsmodulen mit einem Doppelimpuls-Prüfsystem und einer impulsisolierten Sonde
Zugang zu Premium-Inhalten erlangen
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