측정한 파형에 IBIS-AMI 모델 적용
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최근의 고속 I/F에서는 이퀄라이저가 RX 장치 내에 적용되지만 그 효과는 RX 입력인 측정 데이터에 포함되지 않습니다. 따라서 SerDes 시뮬레이션 모델로 널리 사용되는 IBIS-AMI 모델을 이러한 목적으로 사용할 수 있습니다. 이 프레젠테이션에서는 IBIS-AMI 모델의 특성을 바탕으로 측정 파형에 의한 모델링을 소개하고 테스트 포인트에서 RX 내부 파형을 추정하는 방법을 설명합니다.