Sonde d'injection de défaut unidirectionnelle

La sonde d'injection de défauts unidirectionnelle DS1120A génère des défauts localisés sur les puces modernes à l'aide d'impulsions électromagnétiques rapides, prévisibles et de forte puissance.

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  • Maximum frequency

    1 MHz

  • Maximum voltage

    475 V ± 10%

  • Technology

    Device Security

  • Product type

    Unidirectional fault injection probe

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Découvrez ce qui est inclus et explorez les options de mise à niveau disponibles auprès de Keysight.

Points forts

Avec des boîtiers de puces de plus en plus complexes et des capteurs photosensibles sophistiqués utilisés pour prévenir les défaillances optiques des lasers, Keysight présente un nouveau vecteur de test puissant pour les scénarios d'injection de défauts (FI) sur les puces modernes. La sonde d'injection de défauts unidirectionnelle induit des impulsions électromagnétiques rapides et puissantes à un emplacement défini par l'utilisateur sur une puce. Les tests FI unidirectionnels vous permettent de contourner les contre-mesures traditionnelles et constituent la prochaine étape dans les tests de sécurité haut de gamme.

La configuration et le processus de test faciles du DS1120A permettent de gagner du temps, en fournissant une impulsion rapide et prévisible qui répond aux exigences internationales des laboratoires de test et des fabricants. L'ensemble de sondes, la table XY et la caméra offrent une configuration complète que les testeurs peuvent contrôler et paramétrer de manière flexible grâce au logiciel Inspector FI. Le logiciel permet l'automatisation des tests et la création facile de rapports pour une analyse et des améliorations supplémentaires des scénarios. La sonde d'injection de défauts unidirectionnelle peut être utilisée de manière autonome ou dans des environnements personnalisés, ainsi qu'intégrée à votre propre matériel et logiciel. 

  • Ne nécessite pas le déballage de la puce
  • Pannes électromagnétiques non détectées par les réseaux de capteurs lumineux
  • Inverse la valeur des cellules logiques sur le dispositif cible
  • Risque réduit de dommages permanents aux puces par rapport au glitching laser
  • Impulsions réglables et puissantes
  • Différentes bobines incluses pour générer différents champs électromagnétiques sur une puce
  • Impulsions rapides et courtes configurables à partir du logiciel
  • Réponse rapide et prévisible au déclenchement
  • Compatible avec la platine XYZ de précision de la sonde électromagnétique haute précision pour le balayage automatisé

Se monte sur la platine XYZ de précision de la sonde électromagnétique haute précision avec :

  • 1 sonde ferrite en croissant
  • Pointes de sonde d'injection de défauts haute précision