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Série de webinaires « Engineering at the Edge » - Épisode 4
À mesure que la complexité des semi-conducteurs augmente et que la conception des cartes s'intensifie, les équipes de fabrication doivent faire face à des tolérances plus strictes, à un accès réduit aux tests et à une pression croissante pour maintenir le rendement et le débit. La validation des performances RF et de l'intégrité des signaux numériques à haut débit à l'échelle de la production ajoute un niveau de complexité supplémentaire que les approches traditionnelles peinent à gérer.
Rejoignez Jason Kary, vice-président senior et président du groupe Electronic Industrial Solutions de Keysight, pour découvrir comment évolue la validation en fabrication. Vous apprendrez comment les stratégies de test au niveau de la plaquette et en circuit améliorent la couverture, permettent de détecter les défauts plus tôt et garantissent une production cohérente à grande échelle sans compromettre la qualité.
Cette session s'adresse aux ingénieurs en fabrication de semi-conducteurs et de composants électroniques. Elle convient particulièrement aux équipes qui se consacrent à la couverture des tests, à l'amélioration du rendement et à la validation de la production à grand volume.
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