How Manufacturing Complexity Increased, and Why Validation Had to Evolve

Über diese Veranstaltung

Webinarreihe „Engineering at the Edge“ – Folge 4

Mit zunehmender Komplexität von Halbleitern und dichteren Leiterplattendesigns sehen sich Fertigungsteams mit engeren Toleranzen, eingeschränktem Testzugriff und steigendem Druck zur Aufrechterhaltung von Ausbeute und Durchsatz konfrontiert. Die Validierung der HF-Performance und der Integrität digitaler Hochgeschwindigkeitssignale im Produktionsmaßstab bringt eine neue Komplexitätsebene mit sich, die mit herkömmlichen Ansätzen nur schwer zu bewältigen ist.

Nehmen Sie an Jason Karys Webinar teil, Senior Vice President und Präsident der ElectronicIndustrial Solutions Group von Keysight, und erfahren Sie, wie sich die Validierung in der Fertigung weiterentwickelt. Sie lernen, wie Wafer-Level- und In-Circuit-Teststrategien die Testabdeckung verbessern, Fehler frühzeitig erkennen und eine konsistente, großvolumige Produktion ohne Qualitätseinbußen ermöglichen.