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Serie di webinar "Engineering at the Edge" - Episodio 4
Con l'aumentare della complessità dei semiconduttori e la crescente densità dei progetti delle schede, i team di produzione devono far fronte a tolleranze sempre più strette, a un accesso ridotto alle aree di test e a una pressione crescente per mantenere la resa e la produttività. La verifica delle prestazioni RF e dell'integrità dei segnali digitali ad alta velocità su scala di produzione aggiunge un ulteriore livello di complessità che gli approcci tradizionali faticano a gestire.
Unitevi a Jason Kary, vicepresidente senior e presidente dell’Electronic Industrial Solutions Group di Keysight, per scoprire come si sta evolvendo la validazione nella produzione. Scoprirete come le strategie di test a livello di wafer e in-circuit migliorino la copertura, consentano di individuare i difetti in anticipo e garantiscano una produzione su larga scala, costante e ad alto volume, senza compromettere la qualità.
È consigliabile la partecipazione degli ingegneri che operano nel settore della produzione di semiconduttori ed elettronica. Questa sessione è pensata per i team che si occupano di copertura dei test, miglioramento della resa e convalida della produzione su larga scala.
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