Cómo comprobar la conformidad del transmisor eléctrico 1.6T

Osciloscopio serie UXR
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Caracterización de carriles PAM4 a 224 Gb/s con osciloscopios de gran ancho de banda

La verificación del rendimiento del transmisor Ethernet 1.6T requiere un análisis preciso de señales PAM4 de 224 Gb/s en hasta ocho carriles. Estas pruebas siguen el borrador de la norma IEEE P802.3dj y se aplican a las interfaces C2M, C2C, KR y CR. Para cumplir la norma, los equipos de prueba deben admitir velocidades de símbolo de 106,25 GBd y emular un receptor de referencia Bessel-Thomson de 60 GHz. Las especificaciones OIF-CEI-224G también guían la validación eléctrica, exigiendo osciloscopios con un ancho de banda de 90 GHz y herramientas para mediciones de jitter, SNDR y RLM.

Las pruebas a velocidades de 1,6 T plantean retos físicos y de integridad de la señal. Los ingenieros deben utilizar interconexiones de alta velocidad, conectores de 1 mm y rutas de señal de baja pérdida para preservar la fidelidad. Las configuraciones de prueba deben ser compatibles con la recuperación de reloj flexible, el modelado de ecualización y los flujos de trabajo de depuración. A medida que evolucionan las normas IEEE P802.3dj y OIF-CEI-224G, las soluciones de prueba deben adaptarse a las metodologías y límites actualizados, garantizando una validación fiable de los transceptores tanto en entornos de conformidad como Exploretorios, especialmente durante la puesta a punto del silicio y el despliegue del centro de datos.

Solución de conformidad del transmisor eléctrico 1.6T

La validación del rendimiento del transmisor de 1,6T según los estándares IEEE 802.3dj y OIF-CEI-224G requiere osciloscopios de gran ancho de banda y software de pruebas automatizado. La solución de conformidad de transmisores eléctricos de 1,6T de Keysight utiliza un osciloscopio de la serie UXR y software de automatización de pruebas para agilizar los flujos de trabajo de conformidad y depuración, permitiendo mediciones rápidas y repetibles de jitter, SNDR y RLM durante la validación de silicio y las pruebas de transceptores de centros de datos.

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