Comment tester la conformité de l'émetteur électrique 1.6T ?

Oscilloscope série UXR
Oscilloscope + Série UXR

Caractérisation des voies PAM4 à 224 Gb/s à l'aide d'oscilloscopes à grande largeur de bande

La vérification des performances des émetteurs Ethernet 1.6T nécessite une analyse précise des signaux PAM4 à 224 Gb/s sur un maximum de huit voies. Ces tests suivent le projet de norme IEEE P802.3dj et s'appliquent aux interfaces C2M, C2C, KR et CR. Pour être conforme, l'équipement de test doit prendre en charge des débits de symboles de 106,25 GBd et émuler un récepteur de référence Bessel-Thomson de 60 GHz. Les spécifications de l'OIF-CEI-224G guident également la validation électrique, exigeant des oscilloscopes avec une largeur de bande de 90 GHz et des outils pour les mesures de gigue, SNDR et RLM.

Les tests à des vitesses de 1,6T posent des problèmes d'intégrité physique et de signal. Les ingénieurs doivent utiliser des interconnexions à grande vitesse, des connecteurs de 1 mm et des chemins de signaux à faible perte pour préserver la fidélité. Les configurations de test doivent prendre en charge la récupération d'horloge flexible, la modélisation de l'égalisation et les flux de travail de débogage. Comme les normes IEEE P802.3dj et OIF-CEI-224G évoluent, les solutions de test doivent s'adapter aux méthodologies et limites mises à jour, garantissant une validation fiable des émetteurs-récepteurs dans les environnements de conformité et d'exploration, en particulier lors de la mise au point du silicium et du déploiement dans les centres de données.

Solution de conformité du transmetteur électrique 1.6T

La validation des performances des émetteurs 1,6T conformément aux normes IEEE 802.3dj et OIF-CEI-224G nécessite des oscilloscopes à large bande passante et un logiciel de test automatisé. La solution de conformité des émetteurs électriques 1,6T de Keysight utilise un oscilloscope de la série UXR et un logiciel d'automatisation des tests pour rationaliser les flux de travail de conformité et de débogage, permettant des mesures rapides et reproductibles de la gigue, du SNDR et du RLM lors de la validation du silicium et des tests des émetteurs-récepteurs des centres de données.

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