Cómo mejorar el rendimiento de las pruebas de osciladores de cristal

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Acelerar las pruebas de frecuencia del oscilador

Para mejorar el rendimiento de las pruebas de osciladores de cristal, es necesario reducir el tiempo que se tarda en obtener mediciones de frecuencia precisas, manteniendo al mismo tiempo la resolución requerida para cada unidad sometida a prueba. Un contador de frecuencia universal puede acortar el tiempo de medición utilizando el tiempo de puerta más corto que aún proporcione el número de dígitos necesario, aplicando los ajustes adecuados de disparo y nivel automático, y minimizando la sobrecarga del panel frontal y de la transferencia de datos durante las mediciones repetidas.

La configuración de prueba dirige las salidas del oscilador a las entradas del contador y secuencia las mediciones de frecuencia en uno o varios dispositivos. El funcionamiento del contador de doble canal permite realizar dos mediciones de oscilador en paralelo desde un único instrumento, lo que mejora la utilización de la estación de prueba sin necesidad de añadir contadores independientes. Las visualizaciones en forma de histograma y gráfico de tendencias ayudan a los ingenieros a supervisar la distribución y la estabilidad de la frecuencia durante la configuración, mientras que la transferencia por bus más rápida y los ajustes de adquisición optimizados facilitan el funcionamiento de las estaciones de prueba automatizadas de producción o caracterización.

Solución para el rendimiento de las pruebas de osciladores

Mejora el rendimiento de las pruebas de osciladores de cristal optimizando los ajustes de adquisición del contador y midiendo varias salidas de oscilador en paralelo. La solución utiliza un contador/temporizador de frecuencia universal de Keysight para realizar mediciones de frecuencia de alta resolución con dos canales de entrada, estadísticas integradas, histogramas, gráficos de tendencias y capacidad de transferencia automática de datos. Los ingenieros pueden reducir el tiempo de prueba seleccionando el tiempo de puerta más corto utilizable, configurando los ajustes adecuados de nivel automático y visualización, y transfiriendo los resultados de forma eficiente al sistema de pruebas. Esto permite agilizar las pruebas de producción de osciladores, la inspección de entrada y la caracterización, en las que tanto la velocidad de medición como la resolución de frecuencia influyen en la capacidad de la estación.
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Véase el diagrama de bloques de la solución de rendimiento para pruebas de osciladores

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